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课程目录及内容介绍：
1、X射线荧光光谱分析技术基础知识
此讲座介绍了X射线荧光光谱分析技术基础知识，主要内容包括基本概念、XRF仪器主要部件、X射线荧光光谱分析技术的特点、X射线荧光分析的样品类型及样品制备、X射线荧光光谱仪的分类、性能及比较、X射线荧光光谱分析方法、X射线荧光光谱仪器计量检定主要性能与验收指标。
2、用WD-XRF测定环境空气颗粒物中无机元素
主要内容包括：大气颗粒物基本概念、污染源标识性元素、颗粒物分析目的、大气颗粒物来源解析；国内外大气颗粒物XRF分析发展历史；XRF分析颗粒物样品中无机元素方法特点；两种XRF分析方法优缺点；不同采样滤膜优缺点；HJ/T 830-2017标准解读；方法准确度评估；利用质控样品（实际颗粒物样品）监控仪器工作状态；代表性论文介绍。
3、用WD-XRF测定土壤和沉积物中重金属元素
主要内容有：测量条件优化（含示例）、标准样品的选择、建立校准曲线的误区分析、干扰谱线和基体效应的校正。解读了方法标准HJ 780-2015各项内容。列举了不同目标元素对应的常见基体元素，介绍了方法检出限计算方法、经验系数法中基体效应校正系数的计算方法及分析方法准确度评估方法和评估结果。
4、用ED-XRF测定环境空气颗粒物中无机元素
建立ED-XRF颗粒物应用程序时，应注意的要点，包括荧光强度获取方式，干扰谱线的校正，校准模型的调整。市场上缺乏颗粒物滤膜标样时，不同分析技术、不同仪器测试结果及实验室间颗粒物样品测试结果比对，可有效发现应用程序存在的问题。尽快研制模拟颗粒物标准滤膜样品和轻元素强度再校准样品，对于有效监控强度波动性，保证样品测试结果的一致性和不同实验室间相同样品测试结果的可比性具有重要意义。
5、用ED-XRF测定土壤、沉积物样品中重金属元素
介绍了ED-XRF应用要点：目标元素及分组测量条件（管电压、电流、滤光片、特征谱线、获取荧光强度方式）；重叠谱线干扰校正和基体校正；两组标准样品：一组用于建立校准曲线，一组用于验证、评估校准模型。模型需要不断检验与完善；靶材元素康普顿散射线与目标元素特征峰构成强度比，用作内标，可有效改善样品分析结果准确度；校准模型中参数要尽量少，避免“过拟合”现象。校准参数与标准偏差的比值大于2-3，才具备统计学的显著性意义；评估标准，参照HJ 780执行。预测样品为一系列标准土壤标样和沉积物标样，用期间精密度考察仪器及校准模型的稳定性。
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