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仪器信息网 3i讲堂 纳米材料粒径表征难点及HORIBA解决方案
[报告]纳米材料粒径表征难点及HORIBA解决方案
开始时间: 2022-05-19 09:30
主讲老师: 肖婷 | 粒度表征应用工程师
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报告相关会议
第三届颗粒研究应用与检测分析 主题网络研讨会
2022年05月17日 09:20 -- 05月19日 12:00
为促进我国颗粒学发展，仪器信息网联合中国颗粒学会将于2022年5月17-19日组织召开第三届“颗粒研究应用与检测分析”主题网络研讨会。分设生物颗粒、欧美克专场、能源颗粒、超微及纳米颗粒、颗粒测试与表征五个分会场。邀请业内著名颗粒学学者、检测分析专家及企业代表，针对颗粒学研究应用及检测分析的前沿热点和疑难问题进行探讨，为颗粒学的研发应用端与检测分析端搭建交流平台。
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报告介绍
报告介绍：
粒径分析对产品的研究开发和质量控制发挥着越来越重要的作用，如何根据需求和应用场景选择最合适的测量工具显得尤为重要。高分辨率、高精确度、高浓度测量是纳米材料粒径表征的几大难点，高速离心沉降粒度分析技术可以同时克服这些问题。Partica CENTRIFUGE CN-300是HORIBA公司新近研发的一款离心式粒度分析仪，主要用于纳米材料的粒径表征，在电子、半导体、能源以及新材料领域具有广阔的应用前景。
主讲老师：
肖婷
肖婷，HORIBA技术支持，主要从事粒度表征和X射线荧光光谱仪的技术支持工作，为不同应用领域的粒径测试用户开发和优化粒径测试方法、提供解决方案。
参会说明：

一、报名贴士（敷衍填写将不予审核）

  • 1、请认真填写各项，您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后，参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式（手机电脑均可参会）

  • 1、直播前一天，助教会统一审核。审核通过后，会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会，请拨打页面下方电话，帮您解决

三、会议资料（交流群，会后视频）

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示，会议ppt无法提供。

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