X射线衍射（散射）技术在材料表征中的进展-仪器信息网3i讲堂

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X射线衍射（散射）技术在材料表征中的进展

[报告]X射线衍射（散射）技术在材料表征中的进展

开始时间: 2020-07-23 15:00

主讲老师: 陈京一 | 资深XRD应用专家

所在公司: 马尔文帕納科公司

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报告相关会议

“X射线衍射技术及应用进展”主题网络研讨会

2020年07月23日 13:30 -- 07月23日 18:00

X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）是通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。物质结构分析尽管可以采用中子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但X射线衍射技术是最有效、应用最为广泛的手段。其应用范围，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手段。为促进相关从业人员深入了解X射线衍射技术的发展和应用现状，仪器信息网将于2020年7月23日举办“X射线衍射技术及应用进展”主题网络研讨会，依托成熟的网络会议平台，为X射线衍射技术相关研究、应用等人员提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。

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报告介绍

报告介绍：

实验室中单色化衍射技术，可以极大地提高粉末衍射的信噪比和峰背比，从而提高微量物相的检测灵敏度。 X射线全散射技术可以用于结晶材料和非晶材料的结构分析，全面了解原子周围的近程状况。 X射线小角散射则是分析纳米材料的有力工具。本报告介绍了马尔文帕納科公司在上述几方面的新进展。

主讲老师：

陈京一

1982年于中国科学技术大学地球与空间科学系地球化学专业获得理学学士学位，1985年于中国科学院上海冶金研究所（现微系统所）获得工学硕士学位，硕士期间师从中国著名X射线晶体学家许顺生先生。1985年至1995年在上海冶金所从事研究工作，1995年加入飞利浦分析仪器事业部（现为马尔文帕纳科公司）工作至今，现为马尔文帕纳科公司XRD资深应用专家。

参会说明：