"第三届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用"主题网络研讨会特邀专家报告—《飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用》

仪器信息网 2019/5/5点击 190 次

         

清华大学分析中心  李展平

【报告人介绍】

        李展平 ,博士,1979-1983年就读于广州中山大学物理系,获理学学士;1983-1986年就读于清华大学,获工学硕士;2004-2005年在日本东北大学,获博士学位。1986年6月-1991年4月留校任职于清华大学无线电电子学系,任助教、助理研究员。1991年6月-2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作,历任俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月至今被人才引进至清华大学分析中心,任高级工程师。目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文四十多篇。

【报告内容】

      《飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用》  

       飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)能以极高的灵敏度(ppm~ppb)探测到包括H在内的所有元素及其化合物信息。它被誉为是一种普适的分析技术。本报告介绍了TOF-SIMS的基本原理、技术特点,以及它在环境等各种领域的应用。

【报名地址】

       https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/BMFXJS/


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