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会议时间:12月15日 09:00 -- 12月16日 17:00

大会介绍

材料表征与检测技术,是关于材料的成分、结构、微观形貌与缺陷等的分析、测试技术及其有关理论基础的科学。是材料科学与工程的重要组成部分,是材料科学研究、相关产品质量控制的重要基础。

基于此,仪器信息网(instrument.com.cn)将在2020年12月15-16日举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会,两天的会议将分设成分分析、表面与界面分析、结构形貌分析、热性能分析等四个专场,邀请材料科学领域相关检测技术研究与应用专家、知名科学仪器企业技术代表,以线上分享报告形式,与在线网友交流互动,针对材料科学相关表征及分析检测技术进行探讨。为同行搭建学习互动平台,增进学术交流。

主办单位:仪器信息网

会议日程

我要参会 12月15日 成分分析专场
  • 09:30--10:00 待定 日本电子株式会社
  • 10:00--10:30 待定 沃特世科技(上海)有限公司
  • 10:30--11:00 热脱附在材料散发及异味物质监测中的应用与相关法规介绍 张兵 玛珂思仪器技术支持经理 技术支持经理
  • 11:00--11:30 X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用 佘晓萌 赛默飞世尔科技(中国)有限公司 应用工程师
  • 11:30--12:00 X射线荧光光谱在高温合金成分检测中的应用 孙晓飞 国家钢铁材料测试中心 高级工程师
我要参会 12月15日 表面与界面分析专场
  • 14:00--14:30 电催化还原反应中的表面吸附调控及其原位拉曼研究 陈建 中山大学 研究员
  • 14:30--15:00 待定 岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司
  • 15:00--15:30 XPS技术及在材料表界面分析中的应用 刘芬 中国科学院化学研究所 副研究员
  • 15:30--16:00 待定 布鲁克纳米表面仪器部
  • 16:00--16:30 光电子能谱(XPS)中复杂谱峰的解析 吴正龙 北京师范大学 教授级高工
我要参会 12月16日 结构形貌分析专场
  • 09:00--09:30 待定 曾毅 中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员
  • 09:30--10:00 待定 : 日本电子株式会社(JEOL) ,
  • 10:00--10:30 待定 大昌华嘉科学仪器
  • 10:30--11:00 赛默飞K-Alpha光学实时XRD技术及应用介绍 居威材 赛默飞世尔科技(中国)有限公司 应用工程师
  • 11:00--11:30 Rietveld结构精修原理与应用 程国峰 中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员
我要参会 12月16日 热性能分析专场
  • 14:00--14:30 热分析技术在材料研究领域应用中的常见问题分析 丁延伟 中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家研究中心 高级工程师
  • 14:30--15:00 待定 梅特勒-托利多中国
  • 15:00--15:30 示差扫描量热法DSC技术进展及其在高分子材料表征中的应用 陈咏萱 南京大学 胡文兵教授课题组成员
  • 15:30--16:00 薄膜材料的热物性测量 陶冶 中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员

参会指南

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请“备注会议题目”加【微信wljt-02】,帮您解决。

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

往期回顾

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