标准介绍
本文件规定了高纯锗谱仪（以下简称“谱仪”）的分类、技术要求，描述了试验方法，同时对检验规则、标志、随行文件、运输及贮存进行了规定。本文件适用于具有同轴型半导体探测器（以下简称“同轴型”）的高纯锗谱仪的生产、销售、管理和检测等。用于特殊或定制场景的其他类型高纯锗谱仪参考使用
起草单位
同方威视技术股份有限公司
清华大学
中国计量科学研究院
中国原子能科学研究院
起草人
李玉兰;李元景;赵崑;何力;付逸冬;张智;宫辉;吴瑶;黄训旺;位红燕;张彤;张红;梁珺成;郝晓勇;魏可新;于海军;潘洪伟;李秀霞;胡春煊;阙子昂
归口单位
全国核仪器仪表标准化技术委员会
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