小高低温环境试验箱广皓天GHTA-63PF

小高低温环境试验箱广皓天，型号GHTA-63PF

小高低温环境试验箱是一种用于模拟不同环境条件的测试设备，可以模拟高温、低温、高湿、低湿等环境条件。它广泛应用于各行各业，如汽车、航空、电子、医疗等领域的材料和产品的环境适应性测试。

小高低温环境试验箱的基本工作原理是利用温度和湿度传感器来监测试验箱内的环境条件，并通过控制系统来调节试验箱的温度和湿度，以达到所需的测试环境。一般来说，小高低温环境试验箱由箱体、温度控制模块、湿度控制模块、测试样品架等组成。

在小高低温环境试验箱中，温度控制模块和湿度控制模块是核心部分。温度控制模块主要由加热器、制冷器和风扇等组成。加热器在试验箱内加热空气，制冷器在需要降温时工作，而风扇则用于空气循环，确保试验箱内的温度均匀分布。湿度控制模块主要由加湿器和除湿器组成。加湿器用于增加试验箱内的湿度，而除湿器则用于降低湿度。在湿度控制过程中，环境温湿度试验箱还需要监测和控制试验箱内的相对湿度和绝对湿度，以确保测试环境的准确性。

在测试过程中，样品架用于放置测试样品，以便在试验箱内进行不同的环境条件下的测试。小高低温环境试验箱可以根据需要进行不同环境条件的模拟，如高温高湿、低温低湿等，以测试样品在不同环境下的性能和适应性。

小高低温环境试验箱广皓天，型号GHTA-63PF 在交变潮湿条件下对半导体的测试方案包括以下步骤：

1. 准备设备：准备小高低温环境试验箱，确保设备能够模拟高温、低温和湿热环境。同时，准备相应的测试设备和工具，如温度传感器、湿度传感器、测试夹具等。

2. 设定测试条件：根据相关标准，设定高温储存、低温储存、温度循环、湿热循环和高湿寿命测试所需的温度和湿度条件。例如，高温储存测试条件为85℃±5℃持续1000h，低温储存测试条件为-40℃±5℃持续1000h，温度循环测试条件为-40℃～85℃持续200个循环，湿热循环测试条件为40℃～85℃，RH=85%持续10个循环，高温高湿寿命测试条件为85℃、85%RH持续1000h。

3. 安装样品：将待测试的半导体芯片安装到环境温湿度试验箱内的测试夹具上，确保安装牢固、稳定。

4. 开始测试：将小高低温环境试验箱的温度和湿度调整到设定的测试条件，并将半导体芯片放置在试验箱内。

需要注意的是，在测试过程中要保持试验箱内的温度和湿度条件稳定，并确保半导体芯片放置的位置和方向正确。同时，要密切关注半导体芯片在模拟环境中的表现，及时发现和处理任何异常情况。

小高低温环境试验箱广皓天，型号GHTA-63PF 技术指标

1、温度范围: 0℃~150℃

2、湿度范围: 20~98%RH (温度在25℃~80℃时)

3、温度均匀度: ±1℃(空载时)

4、湿度均匀度: ±2%~3%RH

5、温度波动度: ±0.5℃(空载时)

6、湿度波动度: ±2%

7、温度偏差: ±2℃

8、湿度偏差: 3%RH以内

9、降温速率: 0.7~1.0°C/min

10、升温速度: 1.0~3.0°C/min

11、时间设定范围: 1~9999H

12、湿度交变范围: 40~98%RH