奥谱天成OPTOSKY 光学薄膜厚度测量仪SM200
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奥谱天成OPTOSKY 光学薄膜厚度测量仪SM200

¥5万 - 20万

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奥谱天成

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SM200

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中国大陆

  • 金牌
  • 第8年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数
  • 膜厚层数: 1层~3层
  • 样品材料: 透明或半透明薄膜
  • 测量模式: 单点测量
  • 光斑尺寸: 1mm,可定制更大
  • 样品尺寸: 直径从 2mm 到 300mm 或更大

综合概述 

SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面,只要薄膜有 一定程度的透射,SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度,以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等,其厚度最大测绘范围可以 达到1nm~250um

SM200自动光学薄膜厚度测绘仪由测绘主机、测 绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成,核心器件 采用高分辨率、高灵敏度光谱仪结合奥谱天成独有的 算法技术,为用户提供的全新一代领先的自动光学薄 膜厚度测量仪。

产品特征 

非接触式、非破坏性的测试系统;

超长寿命光源,更高的发光效率; 

高分辨率、高灵敏度光谱仪,测量结果更准确可靠;

软件界面直观,操作方便省时; 

历史数据存储,帮助用户更好掌握结果; 

桌面式分布设计,适用场景丰富; 

维护成本低,保养方便;

应用领域 

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测绘,这几乎包含了所有的电介质和半导体材料,包括: 氧化硅、氮化层、类钻薄膜、多晶硅、光刻胶、高分子、聚亚酰胺、非晶硅等。 

半导体镀膜:光刻胶、氧化物、淡化层、绝缘体上硅、晶片背面研磨;

液晶显示:间隙厚度、聚酰亚胺、ITO 透明导电膜

光学镀膜:硬涂层、抗反射层; 

微电子系统:光刻胶、硅系膜状物、印刷电路板; 

生物医学:医疗设备、Parylene

产品外观

200.png

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 1次人员培训

免费仪器保养: 共1次

保内维修承诺: 免费维修

报修承诺: 24小时回应并确认保修时间

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奥谱天成其它测厚仪SM200的工作原理介绍

其它测厚仪SM200的使用方法?

奥谱天成SM200多少钱一台?

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奥谱天成SM200的说明书有吗?

奥谱天成其它测厚仪SM200的操作规程有吗?

奥谱天成其它测厚仪SM200报价含票含运吗?

奥谱天成SM200有现货吗?

奥谱天成OPTOSKY 光学薄膜厚度测量仪SM200信息由奥谱天成(厦门)光电有限公司为您提供,如您想了解更多关于奥谱天成OPTOSKY 光学薄膜厚度测量仪SM200报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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