产地类别: 国产
工作尺寸(D×W×H): 250*300*250cm
温度范围: -50~150
温度偏差: ±2
控制精度: 0.1
升温速度: 3°C/min
步入式试验箱 步入式恒温恒湿箱 DR-H202设备概述
大型步入式恒温恒湿试验箱,可对一二次成套联调设备、环网箱、配电箱等大型设备和材料进行高、低温以及不同湿度环境和阳光辐射环境
下存储、运输和使用时的适用性测试,以评估产品的工作性能。
2. 步入式恒温恒湿试验箱主要由内箱、外箱、保温层、送风循环系统、加热系统、制冷系统和电路控制系统组成,其中内箱为 1.2mm 厚不锈钢板,箱体顶部具有机械式防爆泄压口(试验样品包含锂电池换电柜);外箱为耐高低温防静电喷塑钢板,外箱涂层耐腐蚀防刮伤;中间保温层为高强度 PU 发泡与高密度玻璃纤维棉。加热系统采用热风循环加热方式制热;制冷系统制冷方式为水冷型,冷却塔和制冷机组放置于室外,加热制冷系统由微电脑控制器控制。电路控制系统主要对高低温室起控制、监视保护作用。
3. 步入式恒温恒湿试验箱内预留有氙气灯墙(氙灯挂钩及风冷接口),可对被试产品进行阳光辐射试验。
步入式试验箱 步入式恒温恒湿箱 DR-H202 优势说明
采用 PID+PWM 原理的 VRF(制冷剂流量控制)技术实现低温节能运行配备冷控制 PID 自动调节技术(在线性降温和低温恒温过程中,通过冷控制 PID 调节制冷输出量达到温度平衡,即制冷不制热、制热不制冷的“冷平衡”技术)。采用该模式的设计相较于传统冷热平衡模式可节能 30%以上
产品货期: 30天
整机质保期: 2年
培训服务: 安装调试现场免费培训
安装调试时间: 到货后3天内
电话支持响应时间: 2小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 2天内
hast高压老化试验箱UHAST应力实验DR-HAST350I
型号:DR-HAST350I 面议低气压环境试验箱DR-H208-100
型号:DR-H208-100 面议高频水平垂直振动台DR-ZD502C
型号:DR-ZD502C 面议德瑞检测 温湿度盐雾复合试验机DR-H304-F60
型号:DR-H304-F60 面议1 范围 GB/T 32710的本部分规定了适用于测量、控制与实验室用的电热恒温培养箱,电热鼓风恒温培养箱,隔水式恒温培养箱,二氧化碳培养箱和恒温恒湿培养箱等产品的电击和电灼伤,机械危险,火焰从设备内向外蔓延,过高温,流体和流体压力的影响,辐射影响(包括激光器、声压和超声压),释放的气体、爆炸和内爆以及生物危险的安全内容。但不包括与安全无关的设备的可靠功能、性能或其他特性、运输包装的有效性、电磁兼容(EMC)要求、对爆炸环境的防护措施、维修(修理)、维修(修理)人员的防护。 注1:恒温培养箱只能在高于环境温度下作为热源工作,用于向空气以及位于空气中的样品施加热量,保持恒温。本部分适用于测量、控制与实验室用的电热恒温培养箱,电热鼓风恒温培养箱,隔水式恒温培养箱,二氧化碳培养箱和恒温恒湿培养箱等。 注2:这类仪器与设备可能是探人式培养箱,也可能是步人式培养箱。
1 范围 本文件描述了评价半导体器件耐高温高湿环境能力的试验方法。 本文件适用于评价塑封半导体器件和其他类型封装半导体器件的芯片金属化互连耐腐蚀能力。也可作为由于湿气通过钝化层渗透而导致漏电的加速方法,以及多种试验前的预处理方
1 范围 本文件适用于半导体器件(分立器件和集成电路),以下简称器件。本文件用于确定器件是否由于过负荷引起内部发热而燃烧。 2 规范性引用文件 本文件没有规范性引用文件。 3 术语和定义 本文件没有需要界定的术语和定义。 4 试验程序 应使器件不带热沉,在大气环境中工作,并使其内部耗散功率从最大额定值缓慢增加,直至出现下列任一状态: a) 内部耗散功率达到25℃时最大额定耗散功率的5倍,在这种情况下,该功率应至少保持1 min; b)器件开路、短路或者器件的阻值上升到不能再进一步增加内部耗散功率的程度; c) 器件燃烧。器件只有阴燃或燃烧时,才应视为器件失效。
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