产地类别： 进口
工作温度： 非制冷型
测量方式： 非接触式
用途： 测温型
响应波长： 中波
热灵敏度/NETD： <20mk
测温范围： 室温〜300
精度： ±2°C或±2％
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Optotherm Thermal Emmision Microscope/ 热发射显微镜系统，可用于微器件测温及失效分析如 IC，PCB，PCBA，LED等等电子产品的缺陷热点定位。
温度分辨率：< 0.001℃
光学分辨率：5um
低侦测功耗: <5uw
最快定位时间：< 5s
热发射显微镜系统(Thermal Emission microscopy system)，是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一（EMMI,THERMAL,OBIRCH）,是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。
而OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统,标配LOCK IN THERMOGRAPHY锁相热成像技术，将锁相技术和热成像技术有机结合，获得超过1mk以上的温度分辨率，对uA级漏电流或微短路等导致的缺陷，提供了非常好的解决方案。
利用锁相技术，将温度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以侦测uA级漏电流和微短路缺陷
产品货期: 30天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训；额外提供免费培训
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