金相晶粒度柱状图分析系统

晶粒度柱状图分析

强大的图像处理、图像矫正功能

图像增强、反差调整、色彩分离、多通道色彩合成、图像矫正、划痕污迹处理；图像标注、图层合并、图像数据库；方便的标尺工具。

超景深观察 (EFI)

强大的景深扩展功能(EFI)，突破光学显微镜的景深限制，获得全视场清晰图像；支持体视镜偏移修正（offsetEFI）；

体式偏移校正景深观察 (OffsetEFI)

针对体视镜的特殊光路，系统自动修正体式成像中的偏移现象，保证景深扩展的最佳效果；

实时景深扩展 (LiveEFI)

智能化的实时景深扩展功能(LiveEFI)，完美的操作体验；只需要调节焦距，系统自动记录清晰区域，自动实现超景深拍照。

大视野图像采集(MIA)

自动图像拼接功能(MIA)，扩大显微镜的视场限制，得到平滑过度的大视野图像；

实时图像拼接(LiveMIA)

智能化的实时图像拼接功能(LiveMIA)，完美的操作体验，突破视野限制。只要移动载物台，系统自动记录扫描过的区域，无需拍照，自动得到大视野图像。

目标颗粒自动寻边(ATE)

根据颜色差别，自动寻找颗粒边界；

3D表面形貌与3D测量（3D）

3D表面形貌、表面细节等多种浏览方式(3D Surface)；加配AUTOZ模块可实现3D测量(3D Measure)。如：3D模式下测量凹槽深度；

专业的定倍与视场设置功能

实时定倍预览观察、屏幕定倍显示、定倍照片打印、定倍文件保存、定倍插入报告、定倍插入Word/Excel等。可根据检验标准和用户设定自动获得相应倍数的照片与报告。如75X、300X、400X等。

多种模式视场设置/裁剪工具：矩形区域、圆形区域、椭圆区域、任意形状区域；任意视场尺寸、固定照片尺寸、固定试样尺寸。如：标准的80mm圆形视场，夹杂物检测中的0.5mm2标准视场。

层深与长度测量分析功能

层深测量用途广泛。包括各种深层、镀层的测量。脱碳、渗碳、渗氮层的测量。马氏体针长度测量、石墨长度测量等等。同时支持晶粒尺寸、夹杂物尺寸、石墨大小等多个半自动测量评级模块。

相含量分析功能

根据颜色信息，自动提取多种组织，用不同颜色表示。提供形态学处理、图像修改等工具达到完美的区分组织。自动测量相含量，得到报告。广泛用于各种组织相的评级：残奥、珠光体、铁素体、双相不锈钢等等。

多种模式的晶粒度测量功能

A．多种方法测量晶粒度：晶粒度尺比照、人工截距、人工截点、自动截点法

B．可分析等轴晶粒、薄板晶粒度

C．适合单晶粒、混合晶粒度、双重晶粒度等多种情况

D．提供多种扫描线：平行线、网格线、圆形等

E．使用与混合晶粒度的测量，自动得到晶粒分布数据。

全面的铸铁分析功能

    符合最新铸铁标准：GB/T 9441-2009、GB/T 7216-2009、ISO 945、 JIS 5502、ASTM A 247等标准。球铁球化率自动测量评级，珠光体、铁素体数量自动评级。自动分离珠光体、铁素体、石墨。灰铁石墨长度测量：自动识别最长石墨

钢中非金属夹杂物分析功能

支持国内外多种测量标准：GB、ISO、ASTM、JIS、DIN。自动提取夹杂物，自动区分A、B、C、D、DS类夹杂物。自动显示测量结果图与测量报告。提供方便快捷的夹杂物光学尺；

颗粒与孔隙分析

提供功能强大的颗粒与孔隙分析、统计工具。自动识别颗粒与孔隙、自动测量面积、粒度、圆度、最大卡规直径、形态特征等大量参数。按照参数进行分类统计，给出统计柱状图和报告。

有色金属专业分析模块

涵盖铝合金、镁合金、铜合金等多种行业；完善的晶粒度测量、包覆层、铜扩散层、阳极氧化膜分析测量，自动识别测量膜厚。铝合金枝晶间距测量(DAS)、铝合金铸造孔隙分析幕

图谱比照法与光学尺

提供方便的图谱比照工具，支持国内外几百种常见标准；

可扩展的图谱功能，随时更新最新标准图谱；

提供晶粒度与夹杂物光学尺；

同比缩放、更改颜色等功能，人性化的检测体验；

图文并茂报告系统

支持个性化分析报告模板设计，自动生成图文并茂的定性分析报告和定量评级检验报告。

智能辅助工具

魔杖工具可以自动识别颗粒、颜色吸管自动识别颜色；高级组织相分割、高级形态学处理。

图像数据显现与高级影像测量

灰度强度曲线工具：显示线上灰度强度变化，从而直观反映图像中的数据变化特性；输出灰度强度曲线图表，输出灰度强度数据到Excel。

位图分析工具：以表格方式显示图像各颜色分量强度数据。

支持实时动态测量；支持OneToOne/AllInOne模式多图像测量。

支持多种高级影像测量工具。自动计算已测量参数的标准统计数据：支持测量数据单独输出到Excel；支持图文并茂Excel通用报告输出，同时输出报告抬头信息、测量结果和综合信息合并照片。

采用智能化选择性数据输出技术，可由用户自由设定输出位置，实现“待测工件→测量参数→专用报告→品管统计”数据流自动化，实现丰富多样的报告样式。