冠测仪器粉末比电阻率其它物性测试FTDZ-I
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¥5666

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冠测仪器

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FTDZ-I

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中国大陆

  • 金牌
  • 第14年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数
  • 量程: 2 mV、20 mV、200 mV、2V
  • 测量误差:   2mA档±(0.5%读数+
  • 电流输出: 10μA、100μA、1mA、10mA
  • 电流误差: ±(0.5%读数+2字)
  • 测量距离: 10MM

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购买须知.jpg

冠测仪器粉末比电阻率其它物性测试FTDZ-I

产品名称:粉末电阻率试验仪

产品型号:FTDZ-I

参考标准:YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第部分:粉末电阻率的测定.pdf

GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GBT 24521-2009 焦炭电阻率测定方法

GB/T 3782-2016 乙炔炭黑-电阻率测试仪

产品概述:

粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.

由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电

,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业,进行检测必备测试设备。




典型用户
用户单位 采购时间
武汉市大洋新技术有限公司 2014-07-15
西安灵龙电子科技有限公司 2013-07-10
售后服务承诺

产品货期: 30天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

  • 热刺激理论是在介质物理的基础上发展起来的,研究这一理论的方法即热刺激法比较简单实用而且又能较准确地测量出某些物质(如电介质、绝缘材料、半导体、驻体等)的微观参数,热刺激法是一面对材料升温一面进行测量,即非等温测量。由于材料(例如介电材料)中的荷电粒子的微观参数(如活化能H、松弛时间等)不同,用热刺激法就很容易将材料中的各种不同H或松弛时间的荷电粒子分离开来,从而求出各自的参数。因为热刺激电流与材料的这些参数(如H与松弛时间)密切相关,故它是一种研究介电材料、绝缘材料、半导体材料等的有效手段。 TSC是指当样品受到电场化后,去掉电场,热激时,样品从化态转变到平衡态的过程中,在外电路中得到的电流,称为热激退化电流(Thermally StimulatedDepolarization Current-TSDC 或TSD)。当然,热激电流也可以是热激化电流,即样品在同时加电场及线性升温时,从平衡态转变到化态过程中的电流。

    66MB 2023-10-27
  • 热刺激电流试验系统 GEST-121AI 一、设备概述: 本仪器主要适用于在不同温度下测试材料电阻的试验测量系统,主要测试材料的电阻温度变化关系。 仪器测试流程自动化实现和完成,并可以保存和导出试验数据。 二、技术参数: 1、小电流分辨率:-1016A 2、温度测量范围:-40°C-250°C 3、升温速率:0.5℃--10℃/min 4、电压量程(DC):10V/50V/100V/250V/500V/1000V 5、样品架:自动升降 6、加热方式:电热丝 7、制冷方式:压缩机 8、导热制冷介质:二甲基硅油(粘度2CS,容量10L) 9、数据采集:软件控制,自动采集,实时动态显示曲线 10、数据保存:可导出EXEXL数据报表,生成电子报告 11、实验流程:参数设定后,整个实验过程无需人工干预,自动完成实验 12、测量电直径:10MM 13、设备重量:100KG 14、加热功率:1500W

    88MB 2023-10-27
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冠测仪器其它物性测试FTDZ-I的工作原理介绍

其它物性测试FTDZ-I的使用方法?

冠测仪器FTDZ-I多少钱一台?

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其它物性测试FTDZ-I使用的注意事项?

冠测仪器FTDZ-I的说明书有吗?

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冠测仪器其它物性测试FTDZ-I报价含票含运吗?

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冠测仪器粉末比电阻率其它物性测试FTDZ-I信息由北京冠测精电仪器设备有限公司为您提供,如您想了解更多关于冠测仪器粉末比电阻率其它物性测试FTDZ-I报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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