上海恒一硬度计-自动维氏硬度计VH500-2A

报价

¥10万 - 20万

暂无评分

品牌

上海恒一

样本

暂无样本

型号

VH500-2A

荣誉奖项

产地

中国大陆

上海恒一精密仪器

银牌
第2年
一般经销商

营业执照已审核

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核心参数

仪器种类： 维氏硬度计

测定材料： 金属硬度计

仪器类型： 台式

产地类别： 国产

测量范围： 1-9999

总试验力： 0.2-50kg

测试空间： 200x170mm

摄像头： 130万

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产品介绍相关方案售后服务承诺用户评论问商家

一、用途说明：测定金属、合金表面层及金属内部组织机构的显微维氏硬度及组织分析；钢铁零件及表面处理后的硬度和有效硬化层深度以及芯部硬度检测；测定小件、薄件和镀层等的硬度及镀层深度等。

二、系统构成：自动显微维氏硬度测量系统，型号EV500-2A型（VH500-2A+EA-2A）。

1.EA-2A型自动显微维氏硬度测量系统是以上海恒一精密仪器有限公司生产的MH-500及VH-500型系列显微，维氏硬度计为主机，配以EA-2A型 PC电脑控制自动硬度测量系统和硬度，有效硬化层深度以及芯部硬度检测等应用软件组成的自动显微维氏硬度测量系统。

此系统同时适用显微硬度计及维氏硬度计，组成半自动显微/维氏(努氏)硬度测量系统。

2.EA-2A应用软件

*图像实时采集及显示

*图像测量定标及标定

*硬度测量和显示

*点测量程序

*点间距离测量及与X轴夹角读出程序

*定序测量程序

*轨迹测量程序

*有效硬化层深度及芯部硬度测量程序

3.CCD 图象采集及电脑游标测量系统（130万像素）

1) 本系统可以对显微硬度计进行各物镜及压头位置的转换、以及自动打压痕的全过程进行控制。

2) 本系统采用自动测量方法。此方法快捷准确，重复性极高，更适合研究讨论。有效的消除了因测量习惯不同而引起的人为测量误差。本系统也可以用鼠标手动测量。

3）本系统的CCD摄像装置装在显微硬度计的顶部，这样既保证了在TV屏幕上压痕的测量，也保证了在目镜中样品的全视域和真色彩的直接观察。

4) 本系统采用图象逼真放大装置。在使用40倍物镜时在TV屏幕上可得到放大近1600倍的高分辨率的样品图象。

5) 系统除了对数据及曲线用激光打印机打印出高质量的报告外，本系统还可打印出所观察到样品的形貌图

三、技术规格

型号		VH500-2A
测试载荷		A型：1、2、3、5、10、20、30、50kgf D型：0.2、0.3、0.5、1、2、3、5、10kgf
加载机构		自动加载，自动卸载 50 微米 / 秒
保载时间		5~99 秒 (任意设定)
塔台机构		自动转塔台
聚焦功能		手动聚焦
物镜		标准配置为二个物镜 ( 10倍和 40倍)
屏幕放大倍数		1600倍 ( 40倍物镜），400倍( 10倍物镜 )，
	最da测量长度	200 微米 (400倍位置)
	最小测量单位	0.1微米
允许样品高度		200毫米
允许样品深度		160毫米
金刚石压头		HV一个
测量硬度标尺		HV / HK
手动载物台	尺寸	200x 180mm
	有效行程	100x100毫米
	最小移动距离	1/100 毫米
光源		LED
光学功能		视场照明可调 32级
精度		符合中国计量检定规程JJG 260-91, 日本工业标准 JIS B-7734, ISO146 及美国材料测试协会ASTM E-384标准
样品表面粗糙度		Ra≤0.4
尺寸		宽226 深560 高660 毫米
重量		50kg
电源提供		单向交流电 220伏 50赫

四、标准配置清单

序号	内容	数量
	EV500-2A型自动显微维氏硬度测量系统包括：	1套
1）	数字显微硬度计，型号VH500-2A	1套
	标准测试块 (HV700,HV400,)	各1块
	金刚石压头 HV (内装)	1个
	电子式测量显微镜（带10倍目镜）	1个
	40倍物镜	1个
	10倍物镜	1个
	LED冷光源照明系统	1套
	水平调整脚	4个
	水平仪	1个
	压头罩 (内装)	1个
	仪器罩	1个
	电源线	1根
	辅助工具	1套
	操作及保养手册	1本
	附件箱	1个
2）	自动硬度测量系统型号: EA-2A 包括：	1套
	自动物台(200 ×180 mm, X / Y 移动距离0 – 100mm）	1个
	操作系统：Microsoft Windows 10 CPU Intel Core2 i双核/硬盘500G/内存4G	1套
	19” LED彩色显示器	1个
	130万像素数字图像采集装置	1个
	激光打印机及打印软件 Model: HP	1台
	EA-2A应用软件图像实时采集及显示图像测量定标及标定硬度测量和显示点测量程序点间距离测量及与X轴夹角读出程序定序测量程序轨迹测量程序有效硬化层深度及芯部硬度测量程序	1套