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M6000 PIXX
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亚洲
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产品简介：
M6000 PIXX 影像式 钙钛矿LED/OLED 寿命衰减机理分析系统
主要用于OLED / 钙钛矿LED / QLED / 柔性电子器件，喷墨印刷工艺开发等器件的寿命衰减机理研究，微区电致发光成像监测
主要客户：香港大学，南京理工大学......
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 1次，根据需要可再协商
免费仪器保养: 根据需要可协商
保内维修承诺: 24小时响应
报修承诺: 24小时响应
经典型 OLED 寿命测试系统
型号：M6000 面议
OLED I-V-L测试系统
型号：M6100 面议
Micro OLED 光电及寿命综合测试系统
型号：M7000 面议
OLED TOF测试系统
型号：T3000 面议有机电致发光器件(OLED)已经得到了广泛的应用。 而且很有希望成为下一代的候选者(全彩色显示器和固态照明应用).
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