产地类别： 进口
仪器简介：
目前能测量固体或薄膜材料的液固介面ZETA电位的仪器很少。而应用电泳
光散射的方法，测量液、固介面Zeta电位的仪器仅有贝克曼库尔特公司
最新上市的DelsaNano系列。
DelsaNano C是目前惟一的应用电泳光散射及动态光散射原理，同时提供
颗粒Zeta电位分布、固体及薄膜液-固表面Zeta电位分布和纳米粒度分布的分
析仪。DelsaNnao通过特别设计的固体平板样品池，有效精确地为固体材料、
纤维材料、薄膜材料等提供ZETA电位分析。为广大的新材料研究、生产提供
先进的、多用途的分析工具。
技术参数：
测量范围：
1.适合测量各种固体、薄膜、纤维等；
3.ZETA电 势：- 200 mV ~ +200 mV
4.电迁移率：-10μm・cm/sec・V ~ 10 μm・cm/sec・V
5.可配合自动滴定仪进行动态pH滴定测量
光 源：
双固体激光，30 mW
探测器：
高性能光电倍增管
样品池：
固体平板样品池
主要特点：
1.测量固液界面ZETA电位，惟一的应用电泳光散射的技术；
2.操作简单，方便快捷；
3.静态测量与动态测量；
4.待测样品无须特别处理；
5通过探测粒子准确推算表面ZETA电位；
6.分辨率高；
7.同时获得粒子ZETA电位与固体表面ZETA电位；
贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪，型号：DelsaNano C/Solid Surface，是全球第一台应用电泳光散射原理，通过测量探测粒子在电场中的运动特征而求得固体（或薄膜）与液体之介面Zeta电位的分析仪。该仪器的上市为固液介面特性的表征提供了一个全新的方法。开拓了一个可探索的包括薄膜、纤维等固体表面研究的新领域。 固体平面样品的Zeta电位可以使用平面样品池来测定。该样品池的上壁为固体平面样品的表面代替。由于样品池上下壁表面的电荷有差异，样品池中的电渗流变得不对称。电渗流取决于安装的样品平面的表面电荷。可用Mori和Okamoto的方程来分析，以测定上壁（样品）表面处的电渗流速度。可以通过表观迁移率减去真实迁移率计算得出。样品的表面Zeta电位可采用Smolochowski方程计算得出。因此固体平面样品的Zeta电位可以被测量。
