BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪
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BA3

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BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪

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l 同时高分辨率采样模式

l 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合

?l 实时显示光束2D/3D图像

l 测量光束的中心、椭圆度和功率

l Excel数据存储,RS232或TCP/IP数据传输

l 可保存快照图像

l 自动验证分析报告

 

 

  主要参数:

传感器类型


Si/UV-Si/IR/IRE

光谱范围

Si

UV-Si

IR

IRE

350-1100nm

190-1100nm

800-1800nm

1200-2700nm

刀片数


3(BA3头)

7(BA7头)

光束尺寸范围

BA3-Si和BA3-UV

BA7-Si和BA7-UV(椭圆形)

BA7-Si和BA7-UV(圆形)

BA3-IR3和BA3-IR3-E

BA7-IR3和BA7-IR3-E

BA3-IR5

BA7-IR5

3μm-5mm

15μm-10mm

15μm-9mm

3μm-3mm

15μm-3mm

3μm-5mm

15μm-5mm

光束宽度分辨率

>100μm

<100μm

1μm

0.1μm

光束宽度精确度


±2%

功率范围

Si和UV-Si探头

InGaAs探头

10μW-1W(有衰减片)

10μW-5mW(无衰减片)

功率精确度

Si和UV-Si探头

InGaAs探头

±5%

±10%

功率分辨率


0.1μW

位置精确度


±15μm

位置分辨率


1μm

饱和度

Si和UV-Si探头

0.1W/cm2(无衰减片),20W/cm2(NG9)

测量速率


5Hz

温度


0℃-35℃

PC接口


USB2.0

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 1人/次

免费仪器保养: 根据厂家保修条款

保内维修承诺: 免费质保,易耗品不在保修范围。

报修承诺: 24小时响应

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