瑞士Lyncée tec、DHM反射式数字全息显微镜
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瑞士Lyncée tec、DHM反射式数字全息显微镜

¥200万

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Lyncée Tech

暂无样本

DHM-R1000

--

欧洲

  • 银牌
  • 第16年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

反射式数字全息显微镜 

反射式配置数字全息显微镜,无需扫描,非接触式测量动、静态物体三维样貌及振动特性的测量方法。根据波长的不同将反射式DHM分为三种型号:

R1000-配备单一光源,是测量光滑表面和振动的标准测量工具

R2100-同时配置双波长,实现复杂或不连续结构的测量。

R2200-在R2100基础上多了第三方光源来扩展测量能力,特别是测量透明模式。

反射式DHM的特性:

快速3D样貌测量法

MEMS分析,最高频率可达25Mh

DHM测量表面三维样貌,单一响应,无需扫描机制。无与伦比的快速采集,相机速度达1000fps允许:

可变形样品的3D动态研究

常规检查与高生产率

短余辉荧光屏及大型表面的分析

捕捉生产线的三维地貌

同步DHM 可选频闪单元,测量MEMS装置的激励信号。这一独特数据分析提供:

三维地貌的时序

共振频率和响应

振动振幅平面外分辨率可达5pm,平面内可达1nm

表征复杂运动和样品

测量可控制环境条件

透明模式的地貌测量

DHM独特的光学配置允许用户测量最佳光学质量指标:

通过玻璃和浸没液体

内部环境和真空室,控制温度,湿度,压强,气体成分。

可选DHM反射式测量法分析软件允许以下测量:

透明结构的地形

厚度和折射率,多层结构的厚度值

从10nm到几十微米

柔软材料和液体的地形

 

反射式DHM主要参数:

系统

DHM型号

R1000

R2100

R2200

光源数量

1

2

3

操作波长(±0.1nm)

666nm

794nm

666 nm, 794 nm, 680 nm

激光波长稳定性

0.01 nm / °C at 666

样品台

手动或自动XYZ平台,行程300 mm x 300 mm x 38 mm

物镜

放大倍数1.25x到100 x,标准,高数值孔径,长工作距离,水/油浸物镜

物镜转轮

六孔转盘

计算机

DELL工作站,最新多核Intel处理器,高性能图像卡,配置最小21英寸显示屏及鼠标,

软件

基于C++和.NET的Koala软件,额外可选软件模块可用于先进分析

数据兼容性

测量数据记录在二进制表格,可导出.txt格式,记录和重建图像可导出.tif格式或.txt数组

 

技术参数:

性能参数

测量模式

666nm单波长

合成短波长4.2um

合成长波长24um

DHM型号

R1000,R2100,R2200

R2100,R2200

R2200

精度[nm]

0.15

0.15 / 3.0 *

20

垂直分辨率[nm]

0.30

0.30 / 6.0 *

40

重复性[nm]

0.01

0.01 / 0.1 *

0.5

垂直测量范围

up to 200 μm

up to 200 μm

up to 200 μm

锐利边缘最大台阶高度

up to 333 nm

up to 2.1 μm

up to 12 μm

表面类型

光滑表面

复杂,非连续表面

复杂非连续表面

垂直校准

取决于干涉滤光片,±0.1 nm

响应时间

标准500us,10us(可选)

响应速度

标准30帧(1024*1024像素),可选达1000帧

重建速率

高达25帧1024*1024像素全息图(依赖于数据分析)(可选60帧)

水平分辨率

取决于物镜,低至300nm

视野

取决于物镜,从66um x66um到5um x5um范围

工作距离

取决于物镜,从0.3到18 mm

数字对焦

取决于物镜,高达50 x景深

最小样品反射率

低于1%

样品照明

低至1 μW/cm2

频闪装置

兼容单一,合成短波长

典型用户
用户单位 采购时间
杭州师范大学 2016-09-30
苏州大学 2016-05-09
北京大学 2016-01-05
清华大学 2015-10-19
  • DHM®-T 除了可以测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等。DHM®-T是测量微光学元件、透明器件形貌、材料折射率等的理想工具,如果与折射率匹配液一起使用,还能增加最大可测倾角范围,特别是在测量众多微光学元件的应用中拥有明显优势。其他一些主要应用方向包括表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试等。DHM®-系列兼容全部可选配件,包括电动样品台, 频闪模块以及数据分析软件等。

    914MB 2018-09-10
  • MEMS Analysis Tool是一个后分析软件。它提供了量化和精确的3D空间和频率分析,时间序列的形貌图(4D),通过DHM®同时拍摄面内和离面运动,离面运动精度达到MEMS激光测振仪精度(5pm),面内运动精度则远超MEMS测振仪精度,达到了1nm。

    855MB 2018-09-10
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