X荧光在线总硫分析仪

Metorex C100型X射线荧光光谱法总硫分析仪基于成熟的元素分析技术(EDXRF)在线检测柴油和汽油中的超低硫含量。成熟的能量色散X射线荧光技术(EDXRF)使得C100型总硫分析仪的检测下限为0.5ppm,检测范围从0到10%。简捷而成熟的测量技术，无需对样品进行气化，无需分光晶体及复杂的机械运动装置，使得用户通过使用最简单而精准的仪器，得到优越的准确度和超低的维护量及操作成本。

分析方法：ASTM-D4294 (能量色散X射线荧光光谱法)

ASTM-D7212 (低硫EDXRF分析法，使用低背景比例计数器)

Metorex C100 X射线荧光光谱法总硫分析仪是世界上最早发明在线X射线荧光光谱法总硫分析仪的制造厂-Metorex公司的第四代产品。C100型X射线荧光光谱法总硫分析仪由控制单元（PES）和分析单元（MHA）两部分组成。样品流经位于分析单元的流通池，样品中的硫原子受到X射线照射发出二次光被探测器所检测，二次光的强度与样品中的硫含量成正比。

在整个分析过程中，被测样品既不会与任何分析部件接触，也不会发生任何转换，因而操作简单，维护量低。同时在分析过程中不需要任何辅助的燃烧气体，因此分析过程更安全，操作成本更低。

应用

石油精炼工业领域：燃油和原油中总硫的测定，或炼油催化剂中杂质和微量金属的测定。

化学工业领域：石化工艺中催化剂的测定，例如测定催化剂中的Co、Mn、Br、V和K等元素。

电镀工业领域：测定电镀槽中的金属元素。

污水处理工业领域：测定污水中的痕量金属，例如Pb、Mo和Cu。

特殊应用探头

Metorex系列专利探头在许多应用场合表现出无与伦比的分析性能，各种针对特殊应用设计的专利探头可以使其性能发挥趋于完美。Metorex的专利探头不仅具有极好的分辨率和极高的信噪比，还具有很长的使用寿命。当一个专用探头和理想的X射线管采样系统完美配合时，就可以实现最低的浓度下限和最高的精度。

早期的EDXRF分析仪，检测器背景噪声是检测轻元素浓度的限制因素。Metorex专利技术的制造的一款新的探测器，通过检测和拒绝不完全电荷收集，来抑制背景噪声。 这把应用在检测轻元素(硅Si，磷P，硫S，氯Cl，钾K，钙Ca)的灵敏度提高到了一个新水平。

全新高速计数电子装置

C100的脉冲处理电子装置还包含全新的高速正比计数电路，这使得C100在一个相当高的速度下(高达50,000 cps)进行测量，相对于传统的EDXRF仪器来说，其测量结果的精准度得到进一步的提高，高速电子计数器和专用探头的组合为EDXRF测量技术带来新的突破。比如C100测量柴油中硫的标准偏差为0.35 ppm。

技术特点

使用EDXRF技术，C100可以测量从硅(原子数14)到铀(原子数92)之间的任何元素，浓度范围从次ppm水平到%水平。

• 检测限：0.5 ppm

• 长期测量的稳定性，通过内标消除检测器和电子漂移。

• 直接测量法，无需高温转换。  

• 样品池窗口和第二个保护窗保护检测器免受样品污染。  

• 特殊涂层的测量池窗口不易被污染，决定了它可以长时间操作而无需维护

• 配置检漏仪，如果遇到检测窗破裂，可切断安全阀门。  

• 检测源是一个X射线管，意味着切断电源时，将停止辐射。

• 测量池自动清洗/校准  

• 可选加热测量池，可将粘度高达100 cSt的高粘样品加热至80℃。  

• 宽量程测量，测量范围从ppm到%水平

• 测量过程不受样品密度和C/H比变化的影响  

• 友好的用户界面

作为世界上最早开发和应用在线X射线荧光分析技术的厂家，Metorex 同时可以提供元素分析仪并以全球超过450套的业绩而深受广大用户的喜爱。