DT-110 高浓体系超声粒度检测仪

超声衰减法测量极限纳米颗粒

获得纳米级颗粒的粒径分布对任何测 量方法都具有挑战。对于传统的分级方法， 如筛分或过滤而言，这些颗粒太小了。至 于计数法，则需要十分昂贵的高分辨率电 子显微镜，且这种视觉分析系统的统计性 很差。对光学系统，无论激光衍射法还是 动态光散射法，聚集和/或团聚的倾向会带 来困难，因为光波会把这些牢固的聚集体 和松散的团聚物“看”成是粗大颗粒，而好 的分散往往是非常需要恰当的分散剂和技 巧的。如果需要近在线表征，声谱是最合 适的方法。

激光衍射法粒度分析的准确性及其与图像法分析结果的比较

激光粒度仪是粉体领域中应用最广泛的测试仪器之一，虽然激光衍射法（LD）是基于单色光与单个粒子相互作用的复杂理论，但它已经细颗粒材料分析的标准参考技术。虽然人们经常讨论其对几何或光学性质的敏感性问题，但由于缺乏替代方法，几乎没有争议。在人们的印象中，LD具有成熟先进的测量原理，测量范围宽，测量结果准确、可靠，重复性好。因此，在现实研发生产中，一提到对比数据，就直呼要与某某品牌的激光粒度仪报告，其他品牌的不认可。然而，随着ISO13321-2009的更新颁布，及等同采用的国家标准GB/T 19077-2016 对激光衍射法粒度分析标准的修正贯彻，对激光粒度仪的应用做了限制，提高了人们的认识。

超声学粒度测量原理及其工艺实现

对于很多应用领域来说，了解粉体一次颗粒的粒径（初级粒径）是非常重要的。陶瓷颗粒的工艺过程就是一个实例，因为陶瓷生坯的孔隙结构、密度及烧结行为与其原料（主要为氧化铝）的粒度分布直接相关。在建筑行业中，固化过程和水泥的加工性能都与这个参数有关。另一个是食品行业，比如说巧克力的质量与巧克力粉的粒径密切相关。了解分散体系的实际粒径，或说分散系的状态，对分散系的质量而言，通常比了解初级粒径还要重要得多：分散体系的状态决定了工艺性能、贮存稳定性以及最终产品的质量等等。因为现有的光学方法只能用于高度稀释的体系，如激光衍射法，却不能提供这一功能。在实际应用中，分散体系的浓度一般远高于1%，而稀释会改变体系的特性。 因为这个原因，超声技术越来越受到推崇。由于物理特性与光波不同，超声波能够分析体积分数60%以内的分散体系，在许多的应用如功能性架构、硅胶、纳米颗粒（粒径5-100nm）中起着重要作用。现代的超声谱仪能够在很大的粒径和浓度范围内表征纳米颗粒。 本文讨论超声谱仪DT-100的工作状态。在阐述测量原理后，还会介绍一些声谱的胶体化学和物理上的基本原理。

超声法在胶体表征中的应用 —— 粒度分布，ZATA电位，流变学

对于胶体体系，超声技术会提供关于颗粒表征的三个重要领域的信息: 粒度分布，流变学和电动学。 另外，超声技术还可以用来表征纯液体和溶解物质(如粒子或者分子)的性质,但我们只对这部分做简单介绍。