用于SEM的Micro-CT,可观察样品的内部三维立体结构,安装简单,无需对SEM做任何改动。 使您的SEM如虎添翼。
技术指标:
由SEM电子束轰击靶材,能量和焦斑尺寸可调
最大样品分辨率: 400纳米
样品尺寸 长:10毫米 宽:0.18毫米-4毫米
高精度样品旋转台
高分辨1024X1024 CCD探测器
强大的数据处理及图像重建软件
应用领域:
材料
矿物
化石
木材
生物
医学
生物样品三维重构
复合材料样品三维重构
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