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少子寿命测量仪BCT-400
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.
因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。
作为最易于使用的测量工具－－BLS，只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话，请选择BCT-400。
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 杜邦 | 2012-09-12 |
| 卡姆丹克 | 2013-12-17 |
| 协鑫 | 2013-09-17 |
| 隆基 | 2013-03-19 |
Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪
型号：WCT-120 292万
电化学ECV +掺杂浓度PN结深测试+CVP21
型号：CVP21 9.2万
热丝CVD设备HWCVD MVS
型号：MVS 面议
PECVD MVS
型号：MVS－PECVD 100万晶体硅硅片、规定以及工艺过程中lifetime测试技术 体硅生产的工艺流程详解 硅材料是当前最重要的半导...源瓶更换的标准操作过程。依次关闭 进气阀门、出气...光照或电流注入导致硅片中的硼和氧形成硼氧复合
Sinton Instruments BCT400 WCT-120 少子寿命测试仪 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术，包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线，与最后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电池过程的每个阶段。
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