MB WIN475系统是以MB性能优异的标准振动台，结合世界领先的振动信号测量控制技术而推出的振动传感器校准系统。目前在世界市场上用户拥有量超过200套，国内也有一些用户。MB校准系统有两个突出特点：其一是标准振动台性能突出，世界领先；其二是系统自动化水平高，用户操作简易。
目前MB WIN475系统主要包括：基本系统、通频校准子系统CAL50、高频校准子系统CAL25HF、低频振动子系统CAL2、横向灵敏度校准子系统TS-System、高低温校准子系统HLT-System、冲击校准子系统Shock-System。
上图中展示了高频校准系统所需的所有组件
基本系统：
- 基本系统包括信号调理模块405-X、数采、电脑和软件。
通频校准子系统：
- MB公司推出超过10年的通频校准台
- 适用于1Hz到10kHz内振动传感器的校准
- 在MB500VI功放的驱动下，最大输出力可达225N
- 其行程能达到25毫米
- 根据校准要求专业设计，标准传感器安装在台体内专用夹具下方，振动传递特性最佳，大幅度改善了高频特性
- 台体中空，标准传感器信号线从台体底部引出
- 校准台面较大，承载能力大，配套功放功率为500瓦，推力大，适用于较大试件。
CAL50通频校准台
高频校准台子系统：
- 适用于1Hz到20kHz甚至30kHz频段的振动传感器特性校准
- 最大行程（止点间距离）达13mm峰峰值
- 待测件最大重量：≤910克
- 待测传感器安装螺纹：10-32规格
- 载荷自动对中（气动方式）
- 校准台面直径74mm，可校准传感器的最大直径达70mm
- 由于采用空气轴承，轴向波形失真度大幅缩小
- 将铍合金高刚度运动组件与高径向支撑刚度的空气轴承结合起来，给传感器特性校准带来一些不同以往的功能，比如，CAL25HF内置的标准传感器是可以由用户方便地替换的，这样用户可以使用多只不同型号的振动标准传感器
CAL25HF高频校准台
低频振动子系统：
- 首先是行程达300毫米，甚至更高，与150毫米行程的振动台相比，同样的频率下可以产生2倍大的加速度，将传感器在振动台上输出的信号信噪比提高了100%。
- 由于采用直线电机作核心部件，使其天然具有高精度位移测量的功能，克服了采用APS振动台作低频标定时到达要求量级振动的稳定时间比较长的弊端，使低频标定时所需时间大幅度缩短，提高了试验效率。
CAL2-300V低频校准台
横向灵敏度校准子系统
- 测试过程中自动调整测试角度、自动采集数据，无需任何人为干预
- 横向灵敏度校准频带：30Hz到2000Hz
- 基于名义灵敏度的百分比标称横向灵敏度，并给出最大横向灵敏度所在的角度
- 绘制出横向灵敏度应的幅频图，并针对每个测试频率点绘制出“8”字指向性图
- 测试完成后，自动将最大横向灵敏度所在位置调整至最高点，便于测试人员标记
横向校准台 
横向校准夹具
高低温校准子系统
- 可测温度范围：-185℃到+800℃，且温度可程控
- 在160Hz处的，传感器灵敏度随温度变化的重复性极高
- 系统软件通过热电偶自动读取温度仓内温度，通过控制加热单元和液氮阀门使仓内温度达到预设值
- 系统软件可设置温度目标值、温度变化速度以及定温驻留时间长度
- 一旦温度仓内温度达到预设值，激振器开始工作，系统开始采集数据并计算灵敏度
- 软件带有自动警告和报警功能，以消除不当操作
- 温度控制精度：±1℃
- 温度仓尺寸：直径200mm x 长600mm
- 激振单元： CALEnergizer RED
- 160Hz处加速度值≤3 gRMS，
高低温校准台
冲击校准子系统
- 结合Model405-X信号调理，该校准台可用于测试电荷型、IEPE型、电压型、压阻型和MEMS行加速度传感器
- 用户可自选量程，包括500g Pk、1000g Pk、2000g Pk和5000g Pk，针对50克的待测传感器，最大可实现4000g的冲击加速度
- 冲击时间宽度：0.06-0.15ms
- 不确定度<± 5%
- 冲击重复速度：每10秒钟1个脉冲
- 可对2次、4次货8次冲击测试的结果进行平均，以消除统计误差和随机误差
- 占地面积小、集成度高
- 校准台尺寸：240mm x 190mm x 560mm
冲击校准台
