阻 值 | 100GΩ | ×10GΩ | ×1GΩ | ×100MΩ | ×10MΩ | ×1MΩ |
准确度等 | 5 | 5 | 2 | 1 | 0.5 | 0.2 |
标称电压 | 5000V | 5000V | 5000V | 5000V | 2500V | 1000V |
阻 值 | ×100kΩ | ×10kΩ | ×1kΩ | ×100Ω |
准确度等 | 0.2 | 0.2 | 0.2 | 0.2 |
标 称 电 流 | 1mA | 5mA | 10mA | 10mA |
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恒奥德压电效应及逆压电效应演示仪,压电与逆压电效应仪 配件型号H17987
型号:H17987 450标准GB1410橡胶体积电阻率测定仪固体表面体积电阻率测定仪/液体微电流测量仪/数字高阻计
型号:HAD-ST121 面议恒奥德直流数字电压表 数字电压表 微伏表 配件HA/PZ158A八位VFD或LED显示
型号:型号HA/PZ158A 面议恒奥德仪器半导体粉末电阻率测试仪,粉末电阻率仪配件四端子法符合GB/T 24521-200
型号:HAD-2722 980电阻应变仪分类 分类 主用用于静态应变或静力实验中有关力学量的测量。 西格马ASMB2-8*N型/ASMB3-8*N型 静态应变采集特点: 1、可同时接10个测应力用应变花,自动巡检、监测10个点的应力及其变化;或可接32个电阻应变片,自动巡检32个通道 2、自动切换通道,测速50Hz/点 3、采用端巡检方案,热稳定性好、速度快、度、寿命长 4、RS422接口,通过转换接口接计算机,自动测量、自动记录 5、台计算机多可以连接100个ASMB2-32型采集箱 6、接桥方式:1/4桥。每8路应变片可共享个补偿片 7、应变测量范围:0~±60000με 8、应变分辨率:0.1με 9、应变片灵敏度可设置,并存在仪器内 10、温漂:±0.15με/℃ typ 11、时漂:≤0.1με/4h 可长期监测残余应力及其释放规律 12、应变检测非线性:≤0.002% 13、应变测量误差:≤ 0.01%×测量值±0.2με 14、可长导线补偿,去除导线电阻引起的系统误差 15、测残余应力时,可去除打孔引起的系统误差 16、适用应变片阻值:120Ω±2%、350Ω±2%、1000Ω±2% 17、调零平衡范围:80%×应变测量范围 动态应变仪 除了可测静态应变外,还可测量较低频的动态应变,可自动测量、显示、记录多点应力、应变变化 西格马ASMC1-8*N 型 应变同步采集仪特点:1、内置4个应变板卡,每个板卡上集成8路速、度、并行、同步应变测试单元,整机相当于32台速应变仪集成在块主板上 2、32路应变同步误差:<0.1μs 3、每个应变测试单元包括:调理放大、滤波、数模转换、数据处理、通讯 4、RS422接口:波特率可达829440bit/s,巡检速度:100圈/s(32路)、200圈/s(16路)、400圈/s(8路) 5、可接桥、1/2桥、1/4桥,具有3种应变计算方法 6、含套应力、应变测试软件,可记录并回放各通道的应力、应变数值及曲线 7、可多个采集箱通过USB或HUB使用,增加通道数 8、量程:0~±60000με 9、测量基本误差:0.01%×测量值±0.2με
便携式电阻率测试仪是用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量份(主机)及四探针头组成,需要时可加配测试架。 为减小体积,本仪器用同块数字表测量电流及电阻率。样品测试电流由度的恒流源提供,随时可行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1~100Ω·cm标准样片的测量误差不过±3%,在此范围内达到家标准. (1)测量范围: 可测方块电阻: 0.1~1999Ω/口 当被测材料电阻率≥200Ω·cm数字表显示0.00。 (2)恒流源: 输出电流:DC 0.1mA~10mA分两档 1mA量程:0.1~1mA 连续可调 10mA量程:1mA ~10mA连续可调 恒流度:各档均优于±0.1% (1) 直流数字电压表 测量范围:0~199.9mv 灵敏度:100μv 准确度:0.2%(±2个字) (2) 供电电源: AC:220V ±10% 50/60HZ 率8W (3) 使用环境: 相对湿度≤80% (4) 重量、体积 重量:2.2 公斤 体积:宽210×100×深240(mm)
最多添加5台