F30薄膜测厚仪
主要用于测试各种透明半透明的膜厚。
产品简介：
1.是监测薄膜沉积的最有效工具，可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口，实时监控长晶速度，实时测量膜厚、 n 、 k 值以及半导体和绝缘体涂层的均匀性。可加装三个探头，同时测量三个样品，有三种不同波长选择 ( 波长范围从可见光 400nm 至近红外1700nm)；
2.测量的薄膜厚度范围从 15nm 到 250um；
3.测量精度优于1% 。
主要特点：
测量精度高，优于 1% ；
测量速度快，几秒钟内可完成测量；
整套设备可放置在沉积室外；
操作简单，使用方便；
价格便宜
应用领域:
分子束外延MBE；
金属有机物化学气相沉积MOCVD；
材料研究；
光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片。
保修期: 免费保修一年，保外提供收费服务
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 保修期内免费提供培训，保修期外提供收费培训服务
免费仪器保养: 保修期内提供免费上门提供保养，保修期外提供收费上门保养
保内维修承诺: 免费保修
报修承诺: 24小时服务
