岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Supra
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Supra

¥500万 - 800万

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岛津

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AXIS SUPRA

--

欧洲

  • 钻石
  • 第23年
  • 生产商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

产地类别: 进口

岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Supra

——最新超高空间分辨成像和超高灵敏度智能科研型,业界领先

 

位于英国曼切斯特的Kratos公司是世界上最早生产商品化X射线光电子能谱仪的厂家之一,现在是世界上最大的分析仪器制造公司——岛津公司的全资子公司。自1997年以来,岛津/Kratos公司研发了包括专利的磁沉浸透镜和专利的低能电子荷电中和系统等一系列新技术的新型光电子能谱仪——AXIS Ultra,并于2002年底推出了使用二维阵列检测器——延迟线检测器(Delay-Line Detector)的最新型AXIS Ultra DLDXPS谱仪,2009年将X射线源的功率从450W提升到600W20145月,Kratos公司再次隆重推出最新型的高度智能化的超高性能XPS谱仪——Axis Supra,并在短短的两个月的时间内,成功地在全球范围内销售了6Axis SupraXPS谱仪。

 

技术特点:

Axis Supra继续采用大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取最高的检测灵敏度,同时采用165mm大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器,可以获得最高的XPS谱线能量分辨。在检测器端,Axis Supra采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代专利的二维阵列延迟线检测器,可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置,亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。

 

Axis Supra采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器,完全满足各类绝缘样品的XPS分析任务,尤其是对于表面凸凹不平的样品(典型的是粉末样品和断口样品),可以获得完美的分析结果。

 

Axis Supra采用专利的球镜半球能量分析器,获得超高空间分辨的二维光电子图像,亦即元素的不同化学状态的二维分布。

 

Axis Supra使用专利的静电传输透镜内置的静电偏转装置,可以利用光电子图像在不移动样品的情况下,获得不同位置上的小束斑微区XPS谱。

 

Axis Supra标配单色化Al阳极,亦可选购单色化的Al/Ag双阳极,并且单色化阳极靶可以更换多个新鲜靶点,极大地延长了阳极靶的使用寿命。

 

 Axis Supra标配进样室定位光学显微镜,可以在进样预抽真空时定位多样品的分析位置,然后转入分析室实施自动分析。

 


  • 目前对心脏支架表面药物表征的方法主要是高效液相法,X射线光电子能谱在此领域的应用较少,通过XPS与团簇离子枪深度剖析配合可以达到对药物涂覆支架表征的目的。

    医疗/卫生 2019-09-17

  • 岛津Axis Supra采用的为同轴低能电子中和枪,配合磁透镜可以实现全方位中和;165mm大半径能量分析器可以实现谱峰结果的高分辨率,600W这麽大的功率可以保证测试结果的高灵敏度。

    能源/新能源 2019-08-12

  • 岛津公司作为综合性的仪器生产商,为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪(XPS)以光电效应为基础,致力于材料表面和界面的元素状态分析,不仅可以给出元素成分的半定量信息,还可以通过化学位移给出元素的价态信息,采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息,同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测;电子探针显微分析仪(EPMA)以聚焦电子束为探针,可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息,和SEM-EDS相比,EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术,提供更高分辨率的元素信息,在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用;扫描探针显微镜(SPM)可以查看纳米尺度上的样品形貌,追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况,为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段;X 射线衍射仪(XRD)致力于提供样品的晶体结构信息,可以实现原位充放电过程中的结构变化监测;能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点,通过工作曲线法,以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试,可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外,还有多种成分及结构分析 手段,如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

    能源/新能源 2020-02-20

  • 岛津公司作为综合性的仪器生产商,为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪(XPS)以光电效应为基础,致力于材料表面和界面的元素状态分析,不仅可以给出元素成分的半定量信息,还可以通过化学位移给出元素的价态信息,采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息,同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测;电子探针显微分析仪(EPMA)以聚焦电子束为探针,可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息,和SEM-EDS相比,EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术,提供更高分辨率的元素信息,在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用;扫描探针显微镜(SPM)可以查看纳米尺度上的样品形貌,追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况,为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段;X 射线衍射仪(XRD)致力于提供样品的晶体结构信息,可以实现原位充放电过程中的结构变化监测;能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点,通过工作曲线法,以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试,可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外,还有多种成分及结构分析 手段,如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

    能源/新能源 2020-02-25

  • 岛津Axis Supra采用的为同轴低能电子中和枪,配合磁透镜可以实现全方位中和;165mm大半径能量分析器可以实现谱峰结果的高分辨率,600W这麽大的功率可以保证测试结果的高灵敏度。

    能源/新能源 2019-08-12

  • 岛津公司作为综合性的仪器生产商,为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪(XPS)以光电效应为基础,致力于材料表面和界面的元素状态分析,不仅可以给出元素成分的半定量信息,还可以通过化学位移给出元素的价态信息,采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息,同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测;电子探针显微分析仪(EPMA)以聚焦电子束为探针,可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息,和SEM-EDS相比,EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术,提供更高分辨率的元素信息,在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用;扫描探针显微镜(SPM)可以查看纳米尺度上的样品形貌,追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况,为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段;X 射线衍射仪(XRD)致力于提供样品的晶体结构信息,可以实现原位充放电过程中的结构变化监测;能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点,通过工作曲线法,以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试,可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外,还有多种成分及结构分析 手段,如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

    能源/新能源 2020-02-20

  • 岛津公司作为综合性的仪器生产商,为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪(XPS)以光电效应为基础,致力于材料表面和界面的元素状态分析,不仅可以给出元素成分的半定量信息,还可以通过化学位移给出元素的价态信息,采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息,同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测;电子探针显微分析仪(EPMA)以聚焦电子束为探针,可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息,和SEM-EDS相比,EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术,提供更高分辨率的元素信息,在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用;扫描探针显微镜(SPM)可以查看纳米尺度上的样品形貌,追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况,为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段;X 射线衍射仪(XRD)致力于提供样品的晶体结构信息,可以实现原位充放电过程中的结构变化监测;能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点,通过工作曲线法,以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试,可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外,还有多种成分及结构分析 手段,如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

    能源/新能源 2020-02-25

  • 岛津公司作为综合性的仪器生产商,为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪(XPS)以光电效应为基础,致力于材料表面和界面的元素状态分析,不仅可以给出元素成分的半定量信息,还可以通过化学位移给出元素的价态信息,采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息,同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测;电子探针显微分析仪(EPMA)以聚焦电子束为探针,可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息,和SEM-EDS相比,EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术,提供更高分辨率的元素信息,在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用;扫描探针显微镜(SPM)可以查看纳米尺度上的样品形貌,追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况,为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段;X 射线衍射仪(XRD)致力于提供样品的晶体结构信息,可以实现原位充放电过程中的结构变化监测;能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点,通过工作曲线法,以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试,可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外,还有多种成分及结构分析 手段,如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

    能源/新能源 2020-02-20

  • 岛津公司Minibeam VI型团簇离子枪最高可产出团簇大小为3000的原子团簇,加速电压最高可达20keV。团簇离子源是新型的离子源,传统的单氩离子源在刻蚀材料时会损伤材料,对于有机材料尤为明显。而团簇离子源不会造成这种损伤,温和地将材料表层进行去除,而不会改变内层材料化学态。

    电子/电气 2019-12-17

  • Axis Supra仪器采用128通道的二维阵列延迟线检测器,可以同时完成谱线采集(光电子信号强度记录)和光电子自样品上的发射位置(成像信息)的记录,轻松实现XPS平行化学成像功能,可对样品表面的元素及其化学状态进行成像分析,给出元素的表面分布信息。本文采用XPS分析结合平行成像技术对“金手指”区域及缺陷处进行测试。

    电子/电气 2019-11-20

  • 俄歇电子能谱是X射线光电子能谱的重要补充,俄歇电子能谱可以进一步将谱仪的水平检测范围减小到5μm以下,实现微区范围的元素及价态分析。岛津AXIS Supra型光电子谱仪可以在X射线光电子能谱的基础上集成俄歇电子能谱功能,为科研工作者提供助力!

    钢铁/金属 2019-11-20

  • 合金样品往往具有一定厚度,采用岛津AXIS Supra双高度样品条可以直接应对,无需对样品进行前处理;无阴影荷电中和系统可以保证谱图的高分辨率,便于化学态分析;Escape软件可以直接进行数据处理,对重叠元素谱图进行分峰处理。

    钢铁/金属 2019-10-31

  • 岛津高能单色Ag靶与单色Al靶共用一个单色器,成本较低,且具备多个靶点,并处于同一靶面,因此仅通过软件即可实现切换,操作简单。可达600 W高功率的X射线源能够很大程度补偿高能靶引起的信号降低问题,对于采用高能靶的测试提供了有力保障。

    半导体 2019-04-26

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 现场客户培训

免费仪器保养: 1年

保内维修承诺: 免费上门维修,部件免费更换(消耗品,客户原因损坏部件除外)

报修承诺: 全周(含周末)热线中心电话咨询

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