薄膜分析仪
薄膜分析仪

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SINTERFACE

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TFA-1

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欧洲

  • 钻石
  • 第19年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
 
•采用Sheludko-Exerowa的显微干涉仪技术
•可用于所有液膜厚度的测量:例如,泡沫(宏观,微观),乳化剂(水/油/水 和 油/水/油),润湿剂,以及弯曲膜的测量
•可以直接观察液膜的形成,厚膜至薄膜的薄化过程,暗点的生成及生长,暗灰膜和黑膜之间的过渡
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