看了天平的用户又看了
仪器简介：
梅特勒-托利多XP/XS分析天平快速安全的满足所有称量需求。其中，XP分析天平具有全面的质量管理工具(QM)，满足质量保证的要求，特别适合于例如制药行业的严格法规环境。而XS分析天平，配合其创新选件，为快速高效的称量过程设立了全新标准。
主要特点：
采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求；
具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)或触摸屏(TouchScreen)，实现安全、便捷的天平操作；
红外感应器(SmartSens)*，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等；
网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确的称量结果；
水平控制系统(LevelControl)*，在天平偏移水平位置时提供警告提示功能；
专业级全自动校准技术(proFACT)或全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果；
最小称量值(MinWeigh)功能，提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)；
天平校验功能(BalanceCheck)*，自动提示用户使用外部砝码校正天平，确保称量结果始终准确；
显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀；
标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备；
符合GxP规范的称量结果输出，获得完整的、可追溯的称量信息；
GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作；
*仅XP天平
技术参数：
XP分析天平：量程120g~520g，可读性0.01mg~0.1mg
XS分析天平：量程120g~220g，可读性0.01mg~0.1mg
