用途：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
型号：HZQ-3（4）
特点：
1.微电脑温度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED数字显示.
2.白金温度感知器（PT-100）与精确的温度可控制解析能力0.1C.
3.蒸汽试验目标温度设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制.
4.全自动安全保护装置、双重高温保护/蒸汽用水断水空焚保护装置..
主要技术参数：
测试槽尺寸：92*285*40（W*D*H）mm 3/4SET
加热时间：RT～98℃About50min
温度稳定度：±0.3℃
内箱材质：304﹟不锈钢
外箱材质：烤漆涂装
符合标准：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…
可按照公司提供的要求定做.
亲爱的用户您好,如需本厂全面彩页,请与市场部王琪小姐索取， 索取手机：13361863893 本厂主要生产恒温恒湿试验箱，高低温试验箱，高温箱，培养箱，盐雾试验箱，跌落试验台，马弗炉等产品。
