SGW X-4
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仪电物光

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SGW X-4

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中国大陆

  • 白金
  • 第17年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
仪器简介:

测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。



技术参数:

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X

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