JW-BK400陶瓷比表面积分析仪(静态法)图片

本图片来自北京精微高博仪器有限公司提供的JW-BK400陶瓷比表面积分析仪(静态法),型号为JW-BK400陶瓷比表面积分析仪(静态法)精微高博物性测试仪器及设备,产地为中国大陆北京,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的RuboSORP MSB 磁悬浮天平-重量法吸附仪JW-M100A真密度测试仪(开/闭孔孔隙率)等仪器。
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北京精微高博仪器有限公司

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白金20年

营业执照已认证

品牌性质: 生产商
厂商荣誉:

仪器核心参数

仪器种类: 比表面及孔径分析仪
产地类别: 国产
仪器原理: 静态法(静态体积法)
分析站数目: 4
测试范围: ≤± 1.0%(比表面)
压力范围: P/P0 10^-4 - 0.998;
测试理论: 静态容量法,低温氮吸附(或其他吸附气体)
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