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第五届材料表征与分析检测技术网络会议成功召开,回放视频上线!

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分享: 2023/12/27 11:29:58
导读: 会后经征求报告嘉宾意见,其中23个报告将设置视频回放,便于大家温故知新。

近日,第五届材料表征与分析检测技术网络会议于线上成功召开。会议由仪器信息网主办,并得到了马尔文帕纳科、沃特世、牛津仪器、钢研纳克、徕卡、岛津、弗尔德、日立、布鲁克等多家仪器企业的大力支持,旨在帮助业内人士了解前沿材料表征与分析检测技术,解决科研难题,开展相关工作,吸引近1500人报名参会。

会议共历时4天,设置了6大专场,近30位专家与企业代表围绕粒径粒型分析、成分分析、微区结构与形貌分析、表面和界面分析、物相及热性能分析等主题,以在线报告的形式展开探讨,内容涉及粒度仪、电子显微镜、原子力显微镜、光学显微镜、电子背散射衍射、能谱仪、X射线荧光光谱、X射线成像、X射线衍射、X射线光电子能谱、红外光谱、质谱、色谱、热重等各种材料表征与分析技术。会议过程中,听众积极参与,直播间氛围热烈。

会后经征求报告嘉宾意见,其中23个报告将设置视频回放,便于大家温故知新。

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马尔文帕纳科粒径粒型表征技术应用专场

报告题目

报告嘉宾

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马尔文帕纳科粒径粒型表征技术在锂电行业的最新应用

黎小宇

马尔文帕纳科 上海应用实验室主管粒度仪产品线资深应用专家

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药物颗粒粒径粒型表征技术及前沿应用

陈丽

马尔文帕纳科 医药行业高级业务发展专家

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微区结构与形貌分析专场(上)

报告题目

报告嘉宾

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透射电子显微镜镜技术在材料微区结构及形貌分析中的应用研究

毛晶

天津大学 测试中心副主任副高

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牛津仪器多种显微分析技术及成像系统的介绍及应用

杨小鹏

牛津仪器科技(上海)有限公司 应用科学家

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徕卡光学显微镜在不同尺度下的形貌表征

姚永朋

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 应用工程师

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半导体纳米材料原子尺度结构性能研究

李露颖

华中科技大学,武汉光电国家研究中心 教授

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微区结构与形貌分析专场(

报告题目

报告嘉宾

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透射电镜表征磁性材料样品的前处理技术路线探索

郭新秋

上海交通大学分析测试中心 助理研究员冷冻电镜中心副主任

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二维及三维EBSD分析样品的高效制备方法介绍及应用

王波

弗尔德 (上海)仪器设备有限公司 应用经理

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原位拉伸及电子背散射衍射在金属材料微观表征中应用

李云玲

钢研纳克检测技术股份有限公司 高级工程师

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布鲁克的平插能谱仪与微区XRF介绍

陈剑锋

布鲁克(北京)科技有限公司 应用科学家

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X射线三维成像技术及应用

程国峰

中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员

不回放

成分分析专场

报告题目

报告嘉宾

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红外光谱分析制样技术漫谈

朱邦尚

上海交通大学分析测试中心 研究员

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材料的成分分析探讨

吴伟明

江西理工大学分析测试中心 教授

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应对材料分析挑战的色谱质谱及信息化技术应用

李欣蔚

沃特世 大中华区 T&LS部门材料科学市场经理

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高精度检测方法在高温合金化学成分分析中的应用

高颂

中国航发北京航空材料研究院 高级工程师

不回放

高分子材料老化降解成分捕获与分析测试技术

高峡

北京市科学技术研究院分析测试所(北京市理化分析测试中心) 副所长/研究员

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物相及热性能分析专场

报告题目

报告嘉宾

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X射线衍射法晶格常数的精确测定及其在铝合金研发中的应用

董学光

中铝材料应用研究院 试验中心主任助理高级工程师

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实时观察系统在热分析中的应用

方裕诚

日立分析仪器(上海)有限公司 应用工程师

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热分析技术在冶金及材料领域中的应用

赵晖

昆明冶金研究院 主任工程师高级工程师

不回放

聚乳酸立构复合晶与同质晶竞争生长机制的热分析探讨

李照磊

江苏科技大学 系主任副教授

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基于热重-红外/质谱联用技术的定量检测方法开发

张杰

上海交通大学分析测试中心 助理研究员

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表面和界面分析专场

报告题目

报告嘉宾

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X射线光电子能谱(XPS)定量分析

吴正龙

北京师范大学 教授级高工

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岛津XPS技术在材料表面分析中的应用

吴金齐

岛津企业管理(中国)有限公司 应用工程师

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纳米气泡气液界面的检测

陈岚

国家纳米科学中心 研究员

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范德华异质结光电探测及光电存储器件

谢伟广

暨南大学 教授/实验中心主任

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紫外光电子能谱(UPS)样品制备、数据处理及应用分享

张南南

上海交通大学分析测试中心 中级工程师

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[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载

标签: 材料表征
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作者:葱头

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