11月14-15日！第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会全日程公布！

第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会

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演讲嘉宾

11月14日上午 光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用专场

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09:30

10:00

原位电子能谱技术的应用

姚文清

清华大学/国家电子能谱中心 研究员/副主任

10:00

10:30

XPS在材料研究中的应用

程斌

北京化工大学 研究员/副主任

10:30

11:00

XPS在纳米薄膜厚度测量中的应用

刘芬

中国科学院化学研究所 副研究员

11:00

11:30

同步辐射光电子能谱技术及其应用

朱俊发

中国科学技术大学 教授

11月14日下午 扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用专场

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14:00

14:30

纳米测量技术国际标准化工作的意义探讨

黄文浩

中国科学技术大学 教授

14:30

15:00

基于扫描探针的原子制造技术的探索

陆兴华

中国科学院物理研究所 研究员

15:00

15:30

多频静电力显微镜电学性质动态测量技术

钱建强

北京航空航天大学 教授

15:30

16:00

日立AFM在表面分析方面的应用

刘金荣

日立科学仪器（北京）有限公司 高级工程师

16:00

16:30

扫描探针显微镜在神经形态器件中的应用研究

惠飞

郑州大学材料科学与工程学院 研究员

16:30

17:00

原子力显微镜在高分子表征中的应用

张彬

郑州大学 教授

11月15日上午 电子探针/原子探针技术与应用专场

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09:30

10:00

电子探针分析在关键金属矿产研究中的应用

陈振宇

中国地质科学院矿产资源研究所 研究室主任/研究员

10:00

10:30

三维原子探针分析技术与应用

沙刚

南京理工大学 教授

10:30

11:00

原子探针层析技术原理及其在镍基合金中的应用

李慧

上海大学 副研究员

11:00

11:30

电子探针在材料科学中的应用

刘树帅

山东大学材料学院材料表征与分析中心 副主任

11月15日下午 二次离子质谱、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用专场

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14:00

14:30

二次离子质谱（SIMS）质量分辨的测量

李展平

清华大学分析中心 高级工程师

14:30

15:00

拉曼光谱分析技术和扫描电镜分析技术在古代陶瓷器科学研究中的应用

刘松

中国科学院上海光学精密机械研究所 副研究员

15:00

15:30

动态二次离子质谱仪DSIMS在半导体材料检测中的应用

高钟伟

甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司 技术工程师