半导体&电子测试测量,投稿:kangpc@instrument.com.cn
电子元器件测试筛选服务也称之为电子元器件二次筛选。电子元器件的二次筛选是指在元器件厂家筛选的基础上,由使用方或其委托的第三方对电子元器件进行的筛选。二次筛选是在电子元器件各种失效模式的基础上,进行的一系列有针对性的试验,从而达到有效剔除早期失效的目的。介于目前我国电子元器件设计、制造和工艺等方面的现状,以及进口元器件采购中的诸多不可控因素,电子元器件二次筛选已成为激发电子元器件潜在设计、生产缺陷,有效剔除早期失效产品,提高整机系统的可靠性等方面必不可少的一环。
电子元器件测试贯穿产品设计元器件选型、生产阶段元器件接收和选用、产品交付阶段的产品“二次”筛选。设法在一批元器件中剔除那些由于原材料、设备、工艺、人为等方面潜在的不良因素所造成的有缺陷的,或可能发生早期失效的器件,而挑选出具有一定特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收,提高产品使用可靠性,特别是针对进口元器件,通过“二次筛选”保证产品质量可控,提高装备整体可靠性。
电子元器件测试筛选一般要求:1.不改变元器件固有可靠性,非破坏性试验;2.对批次产品进行100%筛选;3.剔除早期失效品,提高元器件使用可靠性;4. 筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。
电子元器件测试筛选涉及到大量种类的仪器设备,以下为电子元器件测试筛选的相关测试项目及检测仪器设备清单:
测试项目 | 检测仪器设备 |
电测试 | 阻抗分析仪 |
高阻计 | |
耐压测试仪 | |
高精度图示仪 | |
继电器测试系统 | |
电源模块测试系统 | |
环境、应力筛选 | 高低温试验箱:热循环试验 |
恒定加速度试验台:恒定加速度试验 | |
可编程电源:电压、功率老炼试验 | |
电子负载:电流、功率老炼 | |
颗粒碰撞噪声测试仪 | |
寿命/老化/老炼试验 | 单片集成电路高温动态老炼系统 |
混合集成电路高温动态老炼系统 | |
电源模块高温老炼检测系统 | |
晶体振荡器高温老化测试系统 | |
分立器件综合老炼检测系统 | |
分立器件间歇寿命试验系统 | |
电容器高温老炼检测系统 | |
大功率晶体管老炼检测系统 | |
继电器低电平寿命筛选系统 | |
继电器中电平寿命筛选系统 | |
继电器高电平寿命筛选系统 | |
外观检查 | |
密封检测 | |
碳氟化合物粗检漏仪 | |
X射线照相 | X-RAY透射系统 |
扫描声学显微镜检查 | 声扫检测设备 |
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