赛默飞环境
资讯中心

仪器快讯周刊351期

仪器信息网APP

资讯 专题
搜索
当前位置:首页 > 资讯中心 > 厂商

TESCAN 参加“2018年上海市电镜学术年会”——Xe Plasma FIB-SEM+TOF-SIMS技术亮相!

仪器信息网 2018/12/21 17:55:50 点击 887 次


S9000X Banner.jpg


作为电子显微镜及聚焦离子束等设备的全球供应商,TESCAN赞助出席了本次年会,并带来了《氙气等离子双束电镜+飞行时间二次离子质谱综合分析平台》的精彩报告。


2018年12月20日,“上海市显微学学会2018年学术年会”在上海市复旦大学成功召开,会议邀请了上海及周边共计200余位专家学者参会,共同交流电子显微学在相关领域的最新成果和应用。作为电子显微镜及聚焦离子束等设备的全球供应商,TESCAN应邀出席,并发表了大会报告。

图片1.png

上海市显微学学会2018学术年会现场


此次会议邀请了多位行业知名专家分享了电子显微镜在相关领域的最新应用与研究成果。作为材料微观分析的重要工具之一,电子显微镜一直被广泛地应用于材料、生物化工、半导体与电子器件等领域,但随着电镜技术的发展,与电子显微镜相关的联用扩展技术越来越受到关注。


在会议上,TESCAN应用专家马瑞博士带来了《氙气等离子双束电镜-飞行时间二次离子质谱综合分析平台》的精彩报告,向参会的专家学者详细介绍了TESCAN独创的双束电镜-飞行时间二次离子质谱一体化系统(FIB-SEM-TOF-SIMS)的联用创新技术及应用前景。

图片2.png

TESCAN应用专家马瑞博士带来精彩报告


马瑞博士介绍到,“TESCAN在电镜的综合分析能力以及原位扩展能力上做出了很多创新,独创了很多新技术新方法,包括与拉曼,二次离子质谱等的一体化集成。其中,二次离子质谱联用系统是专门集成在双束FIB系统上的创新技术,可以提供元素定性(从氢元素开始)分析快速高空间分辨率面分布分析和深度剖析及各种微量元素检测,检测浓度可达几个ppm,并可区分同位素


此外,将TOF-SIMS创新集成在FIB-SEM系统上,省掉了标准质谱仪的离子源,同时利用TESCAN氙等离子源的强大功能(快速成像、蚀刻、沉积、光刻及大面积微加工等),可以通过加工样品实现对特定纳米结构进行SIMS分析。”


图片0.jpg

大尺寸页岩样品3D重构应用


在会议展区,受到TESCAN 新技术报告的吸引,很多参会的老师纷纷来到TESCAN展台,了解和咨询TESCAN产品和新技术。


图片3.png

参会老师纷纷来到TESCAN展台了解咨询

 


更多技术和应用详情,请访问:TESCAN公司微信公众平台


[来源:泰思肯]  
我要投稿
网友评论:

版权与免责声明:

① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。

② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。

③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。

康宁
宾德
相关新闻
日排行
周排行
月排行
参展仪器 耗材配件 试剂标物 解决方案 厂商 厂商动态 论坛帖子 博文 资料 谱图 资讯 期刊 求购 仪器专场 试剂专场 耗材专场 仪器分类 论坛分类 仪器问答 仪器无线 English
关于我们 | 栏目导航 | 期刊 | 培训 | 诚聘英才 | VIP会员中心 | 客户投诉 | 友情链接 | 法律声明 | 联系我们 | 本网动态

Instrument.com.cn Copyright ©1999-2019,All Rights Reserved 版权所有,未经书面授权,所有页面内容不得以任何形式进行复制

京ICP证030950号