PANalytical X 射线分析技术研讨会，共同探讨X 射线分析技术的新发展！

X 射线分析仪器技术是近年来迅速发展的一门分析技术，它可在材料研究、分析以及各种工业过程和质量控制中测定从金属、矿物、油和其他液体一直到塑料、药物、陶瓷材料、纳米材料及半导体等各种材料的化学成分和晶体结构。

为了与X 射线分析仪器界的同仁共同携手促进X 射线分析仪器的发展和广泛交流最新的研究进展，陕西省分析测试协会和荷兰帕纳科公司（PANalytical B.V.）将于2016年5 月26 日（周四）在古城西安举办“帕纳科最新X 射线分析技术研讨会”，届时将向您介绍X 射线荧光光谱分析的最新进展！

与此同时，帕纳科还将现场展示最新推出EDXRF 能谱仪台式一体机—Epsilon1，您将看到其为不同行业量身定做的多种解决方案！特此邀请您光临出席此次研讨会，共同探讨X 射线分析仪器技术的发展！

会议信息
2016 年5 月26 日  中国 ? 西安
主办单位：陕西省分析测试协会
                  荷兰帕纳科公司
时间：08:30-17:00
地点：西安富凯禧玥酒店

会议地址：西安市南新街27 号（新城广场东南角）

如果您对我们的会议感兴趣，请联系：

大昌华嘉商业（中国）有限公司

联系人：金小姐

联系方式：029-88337412

邮箱地址：ins.cn@dksh.com

大昌华嘉网站：www.dksh-instrument.cn

扫描关注“大昌华嘉科学仪器部”公众号