日前,JEOL宣布推出新型原子分辨率电镜JEM-ARM300F。
透射电镜一直以来是材料研发当中进行微观结构分析的重要工具。然而,随着纳米级或原子水平的先进材料的研发,针对这类材料的合成研究越来越需要高分辨率的成像和分析技术。
为了满足这种需求,日本电子一直聚焦于推出带有球差校正器的透射电镜技术来超越目前的分辨率极限。在2009年,日本电子推出了JEM-ARM200F,200kV的透射电镜,采用了球差校正技术,分辨率达到了80pm(STEM成像),这是首台达到如此高的分辨率的商品化电镜。为达到原子分辨率水平,JEM-ARM200F整合各种功能来确保高度稳定的性能。目前,已有超过100台ARM200F安装在世界各地,许多研究人员对于电镜原子水平的成像和分析非常熟悉。
同时,随着像差校正的广泛应用,用户对于透射电镜又涌现出各种各样新的需求,除了高分辨率,还有高分析灵敏度、原位分析、灵活的加速电压控制,和像差校正的易操作性。
因而,JEOL研发了JEM-ARM300F,可以说是JEM-ARM200F的升级版,300kV的原子分辨率透射电镜,采用日本电子自己的像差校正技术。JEM-ARM300F的又被称作“GRAND ARM”,分辨率可达63pm(STEM分辨率)。GRAND ARM可以根据用户的需求用于超高分辨率成像,或高灵敏度的分析应用,以及原位分析。
该仪器主要的目标用户是研究机构或半导体制造商。(编译:秦丽娟)
[来源:仪器信息网译] 未经授权不得转载
高度不到1.8米|日本电子发布紧凑、易用120kV透射电镜JEM-120i
2024.06.03
2024.01.22
2024.01.20
2024.01.04
见证中国电镜技术新进展|“2023年度北京市电子显微学年会”在京召开
2023.12.18
版权与免责声明:
① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏,您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功,积分获取达到限制
投票成功~
投票失败了~