2013年8月6日,在2013年显微镜&显微分析会议上,布鲁克宣布推出两款电镜附件:新型XSense™ 平行光束波长色散X射线光谱仪(WDS),XTrace™微焦斑X射线源。
XSense™ WDS
XSense™ WDS可用于扫描电子显微镜(SEM)的元素分析。XSense™ WDS专为介于100和3600 eV的低能量分析而设计,其能量分辨率可低至4eV,可分辨紧邻的X射线,以及微量元素检测。
XTrace™微焦斑X射线源
XTrace™微焦斑X射线源可用于扫描电镜系统,并结合布鲁克的能谱检测器,实现微束X射线荧光分析。同电子束激发X射线光谱法进行元素分析相比,微束X射线荧光光谱仪的检测下限要低20-50倍,尤其是对于中高能量范围的光谱分析,增加了样品中痕量元素分析的能力。
XSense WDS以及Xtrace微焦斑X射线源均可通过ESPRIT 2.0软件进行操作。该软件在同一个用户操作界面集合了EDS, WDS, EBSD和微束XRF分析。ESPRIT2.0不仅能够直观的引导四个操作方法,而且还提供了四种分析数据间结合分析的可能性,以获得更高的定量分析精度。
布鲁克纳米分析部门总裁Thomas Schülein表示:“随着两样新产品的问世,我们现在可以为用户提供前所未有的选择,大大提高他们的扫描电镜的分析能力。作为我们用于微米级及纳米级分析的QUANTAX系统的组成部分,这两个新产品通过全光谱能量范围的分析,用来提升扫描电镜的分析特性和灵敏度度。 XSense WDS适用于低能量区,及轻元素的光谱分析,Xtrace特别适合用于中高能量区域的分析。我们非常自豪布鲁克现在是唯一可以同时提供EDS, WDS, EBSD, Micro-XRF and Micro-CT等5种技术的生产商。由于这些附件全部整合在我们的新型ESPRIT 2.0软件集,研究人员现在可以通过软件对这些方法的分析数据进行整合。现在我们的QUANTAX 系统已成为利用电镜进行综合材料表征的多功能分析工具包。”(编译:秦丽娟)
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