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2011年7月19日-7月25日，麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会分别在中山大学、武汉理工大学、南京大学、浙江大学隆重召开。此次系列研讨会吸引众多学校以及研究所教授约200位专家学者参与了此次大会。
颗粒与表征研讨会现场
麦克仪器资深专家在研讨会现场讲演
[来源：美国麦克仪器公司]
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