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半球形能量分析器-固定减速比模式

2015-06-01 10:42

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资料摘要:

作为通用的能量分析器,半球形能量分析器(SCA/CHA)见图1,既可以用于光电子能谱仪(XPS),也可以用于俄歇电子能谱仪(AES)。考虑到俄歇电子发射效率低,为了将俄歇电子从背景信号中分离出来,提高俄歇电子检测灵敏度,SCA/CHA用于俄歇电子能谱仪时,首要的是提高俄歇电子传输效率,而不是提高谱仪的能量分辨率。本文将着重介绍SCA/CHA在俄歇电子分析中的应用。
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PHI 710俄歇电子能谱仪

型号: PHI 710

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品牌: ULVAC-PHI

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俄歇电子能谱(Auger Electron Spectroscopy, AES)作为表面分析技术领域的纳米探针技术,在固体材料表面纳米尺度的元素成分分析及形貌表征方面发挥着重要作用。AES不仅能通过从样品表面激发出二次电子以观察表面形貌,还能通过探测俄歇电子进行表面成分分析和深度分析。

俄歇电子能谱仪(AES),作为表面分析技术领域的纳米探针,在固体材料表面纳米尺度的元素成分分析及形貌表征方面发挥着重要作用。AES采用场发射电子源作为探针,不仅能通过从样品表面激发出二次电子以观察表面形貌,还能通过探测俄歇电子,用于表面成分分析。此外,AES通过集成的溅射离子枪赋予了对材料纵向深度的逐层剖析能力,从而深入洞悉材料从表面至内部的成分变化与分布规律。 本篇技术文章将主要介绍AES的基本功能:表面元素的定性分析、定量分析以及化学态分析。

原位XPS(常规X射线光电子能谱)结合HAXPES(硬X射线光电子能谱)技术,具备从表面至体相(梯度变化)无损深度分析的能力,为表/界面研究提供了重要的技术支持。

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