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XPS分析粉末样品

2015-04-15 11:27

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资料摘要:

X-射线光电子能谱仪 (X-ray Photoelectron Spectroscopy 简称XPS),作为一种常规样品表面成分表征手段,除了可以提供样品表面的成分和元素的化学状态,且其对样品形态没有特定的要求,只要样品真空兼容即可,无论是块体,颗粒物,还是粉末,无论是导体,半导体,还是绝缘体,均可以分析。
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