搜全网
搜本展位
当前位置:仪器信息网 > 日立高新 >

日立荧光分布成像系统EEM View

产品详情

日立荧光分布成像系统EEM View

日立荧光分布成像系统EEM View
参考报价:
 面议
型号:
 EEM View
品牌:
 日立
产地:
 日本
样本:  【下载】 信息完整度:  
典型用户:  0
灵敏度:
 大于20000(BG); 大于1200(RMS)
波长准确度:
 ±1nm以内
分辨率:
 100μm
狭缝(光谱通带):
 1nm~20nm
色散单元:
 光栅和滤光片
价格区间:
 20万-30万
产地类别:
 进口仪器
分享:
400-803-2799
仪器信息网认证,请放心拨打
仪信通白金会员 第 8 年
仪信通诚信认证
仪器信息网认证,请放心拨打
400-803-2799
名 称: 日立高新技术公司
认 证: 工商信息已核实
信用积分:2142
日立高新手机版

产品简介

一、荧光分布成像系统(EEM View)简介

       作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。


 荧光分布成像系统结构.png

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。

    二、  荧光分布成像系统特点:

    1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)

不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm)同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)


荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)

软件界面.png


2.  样品安装简单,适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!

丰富的样品支架

样品支架.png

支持精确测量的校正工具

标准和空白样品.png


荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。


注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

售后服务
  • 免费上门安装:是
  • 保修期:1年
  • 是否可延长保修期:否
  • 保内维修承诺: 详细信息请拨打4006305821
  • 报修承诺:详细信息请拨打4006305821
  • 免费仪器保养:详细信息请拨打4006305821
  • 免费培训:详细信息请拨打4006305821
  • 现场技术咨询:有
相关产品
  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
400-803-2799
仪器信息网认证,
请放心拨打
扫码拨打
访问手机展位
日立高新官方展位由仪器信息网设计制作,工商信息已核实。
展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/