京都电子 KEM 便携式反射率测定仪 D&S AERD

便携式反射率测定仪 D&S AERD

可快速测量各种固体表面的发射率。
半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。
ASTM C1371 - 15 Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。
HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。

便携式反射率测定仪 D&S AERD 主要特点：

1. 数字显示发射率装置。
2. 测量时间短(约15秒)。
3. 低价格，且操作容易。

便携式反射率测定仪 D&S AERD 技术参数：

检测器部份:
测定波长: 3～30μm。
重复性: ±0.01发射度単位。
输出: 约2.5mV。
响应时间: 约10秒。
电源: AC100V。

主机部份:
精度: 显示値±0.3%。
环境温度: -10?40℃。
尺寸: 80(W)x152(D)X51(H)mm。
电源: DC9V。
重量: 约300克。