核心参数
仪器种类: 能谱仪
带电粒子探测器
1 带电粒子的测量与探测器的基本类型
ORTEC带电粒子硅探测器主要有金硅面垒和离子注入两种工艺,其耗尽层厚度从10微米到几个毫米厚不等。而根据其几何形状与是否全耗尽又有诸多类型。选择合适的带电粒子探测器,除应用本身外,在探测器上应从耗尽层厚度、结电容、漏电流、电子噪声、能量分辨率等性能指标上综合权衡。
用于alpha能谱测量的ULTRA和ULTRA-AS探测器采用了表面钝化和离子注入工艺(即PIPS探测器),该工艺的探测器有诸多优点:接触极更薄,更坚固;低噪声,对Alpha能谱分辨率好;使用边缘钝化技术,可以使样品离探测器入射窗小到1毫米。而一般的面垒型探测器最小只能达到2.5毫米。所以该类型探测器的效率要更高;常温使用,探测器窗可擦拭。
Ultra-AS针对Ultra的区别或改进是采用了进一步低本底的材料,以专适于在ORTEC Alpha Suite谱仪。
ULTRA-CAM系列则是针对气溶胶连续监测设计,探测器具有特殊密闭和抗潮性能。
Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅探测器。
带电粒子探测器在核物理实验中的应用有诸多方面,ORTEC在其探测器类型上都有相应的侧重。比如重离子由于其高度电离和短径迹特性,需要探测器在前接触级具有强电场,适用的F系列探测器在前接触级的场强为20,000V/cm。而对带电粒子的时间谱测量,需要用ULTRA系列或能承受超电压的强场局部耗尽探测器。
探测器的种类如下:(详细资料请致电我公司)
ULTRA与ULTRA-AS系列离子注入硅探测器
A系列局部耗尽金硅面垒探测器
B系列全耗尽金硅面垒探测器
C系列环形局部耗尽金硅面垒探测器
D系列平面全耗尽金硅面垒探测器
F系列局部耗尽重离子金硅面垒探测器
L系列锂漂移硅(室温)探测器
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企业名称
北京泰坤工业设备有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
110114009581070
成立日期
2006-05-22
注册资本
200
经营范围
工业设备的技术推广;自动化控制系统及设备的技术开发、技术转让;专业承包;销售工业设备、阀门、消防器材、计算机软硬件及辅助设备、电子元器件、五金交电(不含电动自行车)、环保设备、仪器仪表、玻璃制品、日用品、医疗器械I、II类;销售机械设备、通讯器材、化工产品(不含危险化学品);技术咨询、技术服务;货物进出口、技术进出口、代理进出口;委托加工机械设备。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
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