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产地类别: 进口
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华南理工大学
2013/12/19
1
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简单高效的XPS分析-从大面积到微区分析的自动队列功能演示
高德英特携ULVAC-PHI部分中国用户成功举办了第一次网络研讨会。此次研讨会主要讨论如何在XPS分析中,充分利用PHI在X-Ray独特的聚焦扫描设计,有效行使从大面积分析到微区分析功能,并演示了如何利用仪器的自动化设计,完成自动队列分析。可实现大量样品高效并且高质量的完成XPS分析。
石油/化工
2014/06/24
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光电子能谱仪(XPS)的自动双束中和功能
当用XPS仪器分析绝缘样品时,样品表面必须保持电中性,即样品表面无静电荷分布。假设样品表面分布有静电荷,就会导致光电子飞出的动能发生变化。通常表面荷电会导致光电子动能减小,即结合能向高端偏移。 为了很好的解决这个问题,ULVAC-PHI公司的XPS设备增加了双束中和枪的功能,中和枪为绝缘样品荷电区域提供了稳定的荷电补偿。
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2016/04/22
光电子能谱仪(XPS)的精準样品定位
样品自制备后到放入分析室,确定分析位置需要经过几个步骤,各个步骤的精确定位以及样品导航,在ULVAC-PHI的XPS光電子能譜儀儀器上均经过精心设计,以满足用户不同层次的需求。本文将分别以PHI Quantera II(简称QII) 与PHI-5000 VersaProbeII (简称VP II)样品导航和定位为例,深入介绍ULVAC-PHI的XPS在该方面的设计理念及实际操作。
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2016/03/24
半球形能量分析器-固定减速比模式
作为通用的能量分析器,半球形能量分析器(SCA/CHA)见图1,既可以用于光电子能谱仪(XPS),也可以用于俄歇电子能谱仪(AES)。考虑到俄歇电子发射效率低,为了将俄歇电子从背景信号中分离出来,提高俄歇电子检测灵敏度,SCA/CHA用于俄歇电子能谱仪时,首要的是提高俄歇电子传输效率,而不是提高谱仪的能量分辨率。本文将着重介绍SCA/CHA在俄歇电子分析中的应用。
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2015/06/01
分析仪器中常用的能量分析器 带电粒子能量分析器
粒子能量分析器就是根据粒子不同的能量,将其分开的装置,常用的粒子能量分析器,主要是静电场型能量分析器。常用的静电能量分析器有以下几种,即同轴筒镜能量分析器(CMA)(如图1),扇形能量分析器(如图2),和半球形能量分析器(SCA/CHA)(如图3)。它们均可以将不同动能的带电粒子分散开,即按照粒子能量高低排列成一系列的谱线。
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2015/05/04
XPS深度剖析数据处理LLS&TFA
PHI MultiPak 是电子谱分析中,功能最强大的数据后处理软件之一,支持谱峰识别、化学态信息提取、定量分析,同时也集成了大量的标准图谱数据库。PHI MultiPak同时还整合了强大高级算法工具,可以进行数据集合的批处理,方便的将数值结果导出为其它格式。 PHI MultiPak用户界面如图1所示。本期电子报就如何使用MultiPak对深度剖析数据进行处理,即如何使用最小二乘法(LLS)和目标因子法(TFA)处理XPS深度剖析数据,做详细的介绍。
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2014/11/28
XPS中的全元素深度剖析
深度剖析可以用来表征特定元素沿着样品深度方向上浓度的变化,拓展XPS在材料分析中的应用,而往往在做深度剖析时,需要预先知道一些样品的信息,及样品的膜层结构,同时也要知道每一层所含有的元素和大概的膜层厚度,以便于深度分析时,设定分析条件。 但是,当样品信息未知的情况下,是否可以确定样品中所含元素,纵深方向上的分布信息呢?对XPS而言,完全没有问题,可以采用全元素深度分析。图1展示了XPS全元素深度分析的图谱。
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2014/11/28
XPS深度剖析概述
在材料分析表征领域,除了要获得样品表面的成分外,人们还希望了解样品在纵深方向上,不同成分是如何分布,以全面掌握样品的各种信息;X-光电子能谱仪 (X-ray Photoelectron Spectroscopy 简称XPS),作为一种常规样品表面成分表征手段,除了可以提供样品表面的成分和元素的化学状态,还可以配合溅射离子枪,对样品进行逐层剥离,获取样品在深度方向的成分和化学态信息。最常规的是Ar离子枪,目前,ULVAC-PHI除了提供高性能Ar离子枪外,还可以根据用户特殊的应用需求,提供C60离子枪(10kV,20kV两种)、和气体团簇离子枪Ar-2500 (GCIB)供用户选择。
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2014/11/28
XPS定性与定量分析概述
X-光电子能谱仪 (X-ray Photoelectron Spectroscopy 简称XPS),又称化学分析用电子谱(ESCA),是一种常规的表面表征手段,除了可以表征材料的组成成分外,还可以表征各组成成分所处的化学状态,还有可定量的表征每种化学状态的相对含量;因而XPS广泛地应用于材料研究的各个领域。
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2014/11/28
新一代智能光电子能谱仪 - X-tool
PHI X –Tool 是ULVAC-PHI公司最新推出的智能X-射线光电子能谱仪的产品;PHI X-Tool继承了PHI独有的、专利设计的扫描微聚焦X射线源,并采用了高收集效率的静电分析器和输入透镜系统,实现了微小区域的高灵敏度的分析,并且运用扫描型X射线在样品表面扫描,且利用扫描和输入透镜的信号同步设计,以及DEM(Dynamic Emittance matching)匹配,亦在大面积时候,同样有高得灵敏度和分辨率,同时可以快速进行面分析,线扫描。
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2014/11/28
表面分析技术在玻璃及陶瓷类材料上的应用
上期电子报中,我们已介绍了有机材料所需要的表面分析测量应用。本期我们将玻璃与陶瓷类材料所需要的测量(ESCA、D-SIMS、TOF-SIMS),做一综合性的整理。
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2014/06/24
ULVAC-PHI最新的表面分析技术与应用
1. 高德科创与高德电子报简介 2. 俄歇电子能谱仪(AES)-高能量分辨率的纳米俄歇电子能谱仪 3. X射线光电子能谱仪配合C60离子枪在有机膜材料上的应用 4. 飞行时间二次离子质谱仪-三维离子影像
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2014/06/19
爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司
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