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由单一供应商实现的 5 种分析方法:布鲁克扫描电子显微镜(SEM)系列分析工具。
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XTrace: 使扫描电子显微镜具备 Micro-XRF 分析能力
Micro-CT for SEM: 探寻样品的内部微观结构
敢为人先!
企业名称
布鲁克(北京)科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
110000450210731
成立日期
2012-07-16
注册资本
400
经营范围
布鲁克(北京)科技有限公司
公司地址
北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园B区B-6号楼C座8层
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