PHL公司最新推出一款专用于VR镜片的的评估设备WPA-VR ，适应于研发和在线式检测。1， 斯托克斯参数S3的面分布测量。Pancake镜片薄型化的技术，在于镜头内含有控制整体偏光的偏光片与QWP(1/4玻片)结构。藉由表示综合偏光控制性能的斯托克斯参数S3的整面分布信息可以评估模材贴合时的皱褶、气泡等缺陷状况2， RGB三原色测量，利用三原色量测，可了解各色状态下QWP的相位差及S;差异状况三原色的各色测量，以优化镜片上的图像显色性及减少鬼影状况。3， 镜片的相位差（应力双折射）面分布测量使用于Pancake结构的镜片，期望具有尽可能小的相位差分布然而胶口附近的相位差较大，因此这部分的管理有其重要性4， 偏光片与QWP的相对轴量测理想上，偏光片的透光轴与QWP相位差轴的相对角度呈现45度。此设备可用于制造量产时或产品抽检上量测此相对轴角度的偏移。

            常规椭偏仪通常只能对一点进行膜厚测量，而且单点测量也需要耗费时间，虽然也有可以做到自动扫描检测整个样品膜厚状况的手段，但是点数和时间以及精度往往无法满足工业客户的需求；        对客户的这一痛点日本Photonic lattic 通过以自研的偏振传感器为核心的新一代全检膜厚测量椭偏仪，可以做到1000点/分钟，6寸产品最快可以在3分钟内完成，不仅如此，ME-210-T针对透明基板也可测量。

鉴于近期疫情防控形势严峻，为积极配合政府做好疫情防控工作，根据深圳市政府防疫工作会议要求，本着对所有展会参与者的健康安全、保障展商参展效果的考虑，经与多方协调，组委会决定将原计划于2022年9月7-9日举办的第24届中国国际光电博览会（CIOE 2022）及同期会议活动延期举办，具体时间待定。延期是为了更好的相聚，届时欧屹科技期待各位莅临参观！    

白光真实色共聚焦显微镜关键词：真实色共聚焦、白光光源、Lasertec 真实色共焦显微镜的光源是氙光源，即白光。其实际成像过程是在白光照明的条件下，对物体形貌（包括颜色）进行综合的成像。由于是多色光照明和成像，真实色共焦显微镜能够更真实的反应物体的颜色和形貌，避免了激光扫描共焦显微镜产生的同相异色，同色异相的现象发生，观察者可以通过颜色，分辨和判断试样的成分和组织。在这方面，其分辨率远强于激光扫描共焦显微镜。Lasertec公司推出的新款HYBRID激光共聚焦显微，搭载白光共聚焦功能，可实现白光波段自由切换，得到高焦点深度的高精细彩色图像。 宽视野范围、更高效率与一般的激光显微镜相比视野扩大1.6倍低倍镜同时达到高测量精度配置专用低倍高NA镜头，可实现一般激光显微镜无法达到的低放大倍数·高分辨率测试高精细彩色共聚焦观察使用接近太阳光的白色光源，得到高焦点深度的高精细彩色画像 根据样品特性灵活选择波长HYBRID＋具备波长切换功能，用户可选择测试所需的最适波长范围。适用于单色光无法测定的样品   波长选择应用例  具有特定吸光特性的样品   PI膜无法被蓝光穿透，蓝光观察只获得表面层形貌；用红光可以清晰的观察到膜下方的结构。   在特定波长光作用下特性改变的样品   光刻胶、UV光固化树脂、有机膜等会被特定波长的光线破坏的样品，需选择最适波长进行观察与测试。 

尊敬的新老客户朋友们： 在这秋高气爽的时节，我们迎来了中国的传统节日——中秋节。根据国务院办公厅发布的《2021年节假日安排的通知》的有关规定，现将中秋节具体放假安排如下： 2021年9月19日（星期日）至9月21日（星期二）放假，共三天，9月22日（星期三）正常上班。放假期间如有紧急需要处理的事务，可以随时与我司人员联系。 感谢您一直以来对欧屹科技支持与关心，中秋节假期即将来临，欧屹科技全体员工恭祝您中秋快乐！

        第23届CIOE中国光博会将于2021年9月16 - 18日在深圳会展中心举办，欧屹科技将会在3号展馆，展位号：3D60，欢迎新老客户、业界专家大佬、老师同学莅临指导交流。        北京欧屹科技有限公司将会展出：双折射测量仪，应力测量仪，白光+激光共聚焦显微镜，激光干涉内径测量仪，奈米级三维形貌仪、无掩膜光刻机等精密光学仪器。 展品介绍：1， 应力测量仪来自日本PHL公司的PA和WPA系列双折射应力测量仪，业内市场占有率超过70%。其中PA系列，广泛应用于玻璃、各种镜头、人工晶体、SIC、蓝宝石，晶圆等透明或半透明内部缺陷，双折射变化，内部应力分布的测量。WPA系列，高达0-3500nm相位差范围，几乎适用于所有的透明半透明样品的双折射应力测量，特别是 高分子材料，注塑成型制品，薄膜（位相膜）应用广泛，测量数据准确，软件功能强，使用方便快捷。2， 白光+激光共聚焦显微镜日本的Lasertec公司的激光+白光共聚焦显微镜是白光＆激光共聚焦融合，实现一般激光（白光）共聚焦显微镜无法实现的高性能与多功能，以双共聚焦光学系为基础，搭载微分干涉观察，垂直白光干涉测定，相差干涉测定，反射分光膜厚测量等功能，通常多台设备才能完成的测量，仅需我们的一台设备就可实现。仪器特点：高放大倍数，高分辨率，高对比度，纳米级异物或损伤的可视化，纳米级透明膜的厚度测量，埃米级型状测试，数毫米宽视野范围纳米型状测量。3， 激光干涉内径测量仪Adamand Namiki开发了NMH-01通过微电机和专利的光学成像探头，利用光学干涉实现内型面的测量，内径测量最小可达1.1mm，同时测量内径、真圆度、内型表面粗糙度和形貌。4， 无掩膜光刻机无掩膜光刻机UTA系列是将DLP投影仪盒金相显微镜相结合的缩小投影型无掩模曝光系统，其价格低于传统系统（用于掩膜光刻的图案投影曝光系统）  可以使用专门为此目的开发的软件来创建想要的图案。

尊敬各位朋友:       感谢您一直以来对欧屹科技的关心和支持！五一劳动节假期就要来了，根据国家法定节假日要求我司将于2021年5月1日（周六）放假至 5月5日（周三），6号正式上班。期间有相关技术咨询和售后问题也可随时联系。欧屹科技全体员工祝大家节日愉快，外出游玩注意安全！

日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦显微镜,将激光和白光源组合在一体,用于多功能高性能共聚显微镜.两组共焦光学器件与附加器件相结合,包括干涉仪,微分干涉对比观察和光谱反射膜厚度测量仪。

透明物体由于不均匀冷却或其他如受机械作用等原因，其内部会产生内应力，引起双折射，晶体物质本身具有双折射的光学特征。应力双折射仪采用偏振光电矢量合成及光学补偿原理，通过对样品的光程差的定量测定，确定样品应力双折射的大小。本仪器能精确测定光学波片的光程差、确定光学玻璃的应力级别，是光学仪器制造业不可缺少的仪器，也是研究晶体矿物质的重要工具，广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。　　应力双折射仪的原理：　　当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。　　应力双折射仪用途：　　应力仪是用来检查透明物体内应力大小和分布状况的仪器。不仅在光学玻璃、光学仪器、玻璃制品、塑料制品等工业得到广泛应用，而且在建材、灯具、制药、饮料、工艺品安全防爆指标的检验方面也占有重要地位，在水晶饰品制作、地质矿产、材料科学领域也有不少应用。同时,本仪器也是各大专院校特别理想的教学实验设备。　　应力双折射仪系统特点：　　1、操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布。　　2、2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。　　3、大相位差测试能力：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差

        PHL公司针对晶圆厂对晶圆缺陷检测的需求，推出了晶圆双折射测量装置，让客户高效精确的得到晶圆的双折射信息，目前在SIC和蓝宝石应用成熟。

 在智能座舱飞速发展的今天，车内高清显示变大变多的方向势不可挡。目前，在车载显示盖板加工与材料、贴合胶水与工艺等方面，不同的厂商可能会有不同的选择。如何在保证产品具备品质的前提下，尽量从选材工艺等方面去降低产品整体的成本？相信，这将成为各大厂商考虑的重点之一。  我司此次展示了应力双折射测量仪WPA-200，这款设备主要应用于透明注塑成型产品，利用独特的光子晶体技术，可以在十秒内精确的取得整个样品的应力双折射信息，通过对产品内应力的数据化监控，可以更有效的去改善产品的质量。吸引了众多专业人员了解，纷纷给予了肯定。

         日本Photonic Lttice公司针对市场的需要，开发除了新款的红外波段的应力双折射测量系统，对分析红外光学产品提供了帮助，新款的WPA-NIR在以往的设计基础上，更加的小型化，操作简单、测量速度快，可搭配流水线使用。

随着平板屏幕的进步，21世纪开始光学薄膜生产技术及功能都有很大的突破。双折射测量设备也以光学薄膜品质保证特性，被业界视为此领域的标准设备，设备厂商专门研发了一种，在批量生产中可以实时监控光学薄膜品质的设备，及时发现问题，减少生产是成本。

此次展会我们带来双折射系列的新型产品，更新了新的功能来适应客户的需求，并现场展示，引来大批观众的关注。此次展会公司极为重视，领导亲自到场，此次日本原厂的副总裁和负责中国区的销售总监也亲自到现场为前来了解的客人详细解答。 前来了解的客户兴趣非常浓重，双方都取得了很多成果。