AMPTEK携“1000um”晶体探测器新品亮相BCEIA2021

仪器信息网讯 2021年9月27日，第十九届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2021）在北京·中国国际展览中心（天竺新馆）正式拉开了帷幕，各大仪器厂商纷纷携重磅产品盛装亮相，此次展览会展出面积达53000 m2，集中展示了国内外先进的分析测试新方法、新技术、新仪器设备、新的解决方案等。

AMPTEK展位（E2馆，2401）

此次BCEIA展会，有众多知名国外仪器公司相关人员携新品和主推产品也来到了现场，美国AMPTEK公司就是其中之一。AMPTEK是一家成立于1977年的高科技公司，致力于设计并制造各种尖端探测器等，在该领域也一直处于世界领先水平，在OEM厂商中占有非常高的使用率和良好的信用度。

值此BCEIA展览会召开之际，仪器信息网特别来到了AMPTEK展位（E2馆，2401），采访到了AMPTEK亚太区经理蒋小虎（英文名：Jerry），并由他向我们介绍了此次AMPTEK带来的产品：包括 X-123Si-pin，X-123FASTSDD（160mm2, 1mm晶体），CdTe，Mini-X2光管和数字多道处理器 PX5,DP5 or DP5-X。

AMPTEK亚太区经理蒋小虎（英文名：Jerry）

碳化硼（B4C）新窗口

碳化硼（B4C）新窗口产品特点和优势

• 无Be（对环境无害）, 新材料硼化碳，Al涂膜隔绝有色光

• 相对8um的Be窗厚度，轻元素透过效能好

• 新材料采用半导体工艺，厚度均匀，不易漏气

目前AMPTEK新窗口已经经受过客户现场真空测试，且主流产品之间都可无缝切换。

1000um 晶体探测器

AMPTEK从2010年就开始研发超薄晶体探测器了，其间迭代了数代，直到去年（2020年）才真正突破技术发展瓶颈！推出了这款1000um 晶体探测器（以下简称1000um），而在此之前研发的500um晶体探测器（以下简称500um）的性能一直未能满足需求。虽然1000um较500um晶体厚度增加了一倍，但是信噪比却仍能保持一致，并且在15keV以上的透过性能提高了一倍；结合光路设计，让EDXRF能谱仪分析下限从1ppm级别降低到1ppb级别。AMPTEK希望，1000um未来能广泛地应用在稀土元素，土壤，水质重金属元素，半导体晶圆镀层厚度，晶圆面扫描等众多领域。

蒋小虎提到了“All technical in House”，这是AMPTEK公司内部的说法，指的是探测器所有的关键材料和工艺都能自主生产。AMPTEK拥有强大的研发团队和独家技术，以“市场和解决客户需求”为核心，致力于提高探测器分辨率达到122eV，而目前研发的产品中分辨率最高已接近理论值119eV。因此，AMPTEK又将研发重心转变为“更大面积”和“更厚晶体”，更大面积探测器产品有70mm2和160mm2，分别可以提高2倍和6倍的计数率；更厚晶体指的就是从500um增加到1000um，5keV能量转换效率提高了一倍。然而，更大更厚的硅偏移探测器，意味会产生更大的暗电流、更强的拖尾、更加复杂的噪音，那么，用什么工艺和新材料去保证新产品的成品率就变成了探测器研发的难点。

蒋小虎还分享了目前探测器的研发形势：国外大部分集中在更大面积和阵列硅漂移探测器，国内还处于追赶的初级阶段，仅有2-3家研究机构和企业在做合作开发的工作。目前看，工业探测器领域的竞争对手主要来自德国和美国，但其产品相对单一。而AMPTEK是每年发布新品最多的公司，产品丰富包括SI-PIN、SDD、FASTSDD、CdTe等，还有多样的OEM解决方案，AMPTEK自主开发的数字处理器。AMPTEK公司还拥有经验丰富的本土技术团队，可实现所有的服务如售前，售后和商务活动等。

AMPTEK展位产品