2022/03/09 14:36
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产品配置单:
飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2
型号: Phenom Pharos G2
产地: 荷兰
品牌: Phenom
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飞纳台式扫描电镜 Phenom XL G2
型号: Phenom XL G2
产地: 荷兰
品牌: Phenom
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方案详情:
电子半导体材料是现代制造的基础,是推动集成电路产业发展创新的关键,几乎贯穿整个集成电路制造过程。电子器件在实际服役过程中,由于设计原因或器件与环境相互作用,性能或结构发生变化,可能会出现性能下降或者破坏,需要对失效的原理、机理进行明确并制定相应的改善措施。
失效分析对于纠正设计和研发错误、完善产品、提高产品良品率和可靠性有重要意义,飞纳电镜可以提供简单、高效、精确的电子半导体材料检测方案,对于失效模式的确定有极大的帮助。
案例一 刻蚀线路边角微观结构检查
案例二 Pad 表面缺陷和异物检测
案例三 电子器件异物及成分分析
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汽车零部件清洁度检测——Particle X 颗粒全自动分析解决方案
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显微 CT 技术在复合材料领域的应用分享
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利用火花烧蚀气溶胶技术制备核壳 Cu@Ag 颗粒及生长模型研究
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2023/10/27
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2023/10/27