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飞纳扫描电镜的三头六臂之颗粒统计分析测量系统

2020-02-14 11:00

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飞纳扫描电镜以卓越的微观检测能力被大家熟知,简单的操作、方便的测样、快速的成像以及友好的界面为飞纳带来了不少粉丝。其实,飞纳电镜除了强大的微观检测能力之外,它也有许多实用的可拓展功能。飞纳电镜的这些“三头六臂”让客户在进行微观分析时如虎添翼,今天就来谈一谈其中被很多人关注的颗粒统计分析测量系统。
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显微 CT 技术作为一种强大的无损检测工具,已经在高分子材料的研究和开发中展现了广泛的应用前景。无论是孔隙分析、纤维结构表征,还是裂纹检测与热老化监测,显微 CT 都能够提供深入的微观结构信息,帮助研究人员深入理解材料的微观结构和性能之间的关系,促进企业优化工艺、提升产品性能。在未来,显微 CT 将继续推动高分子材料领域的创新发展,为更多行业提供高性能的材料解决方案。

X 射线检测技术不受检测材料种类的影响,对材料中大部分缺陷,如疏松、夹杂、脱粘等均有较高的检测灵敏度。但传统工业 CT 的空间分辨率受到射线焦点、探测器和重构矩阵分辨率的限制,分辨率有限,无法分辨直径为数微米的特征。但近些年随着科技进步,逐渐发展起来的显微 CT 则可以弥补这一缺陷。

显微 CT 技术是一项通过利用 X 射线对微观样品进行高分辨率成像的先进技术,是研究和解决地质学问题的重要工具,在地质行业发挥着不可或缺的作用。本文将介绍显微 CT 技术的基本原理、发展历程以及其在地质行业的特殊应用。

显微 CT 技术通过高精度的 X 射线无损检测技术,能够在不破坏文物的前提下,清晰、准确、直观地展示文物内部的结构组成以及可能存在的缺陷和损伤情况。该技术为考古学家和文物保护专家提供了一种全新的研究手段,使得对文物的分析和保护工作更加科学和精确。

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