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解决方案

化合物半导体核壳结构纳米金属线的低加速电压SEM/STEM观察/EDX分析

应用领域: 发布时间:
2019-08-22
检测样品: 检测项目:
参考标准:
SU9000 化合物半导体核壳结构纳米金属线
浏览次数:
105
下载次数:
1 次
方案优势
半导体纳米金属线,因其物理特性可控,所以未来有望应用于光学器件上。尤其是异相聚合机构或者核壳结构的材料,富有多重物理特性,应用范围也会变得更广泛。图1是化合物半导体核壳结构纳米金属线的SE/STEM观察结果。图1(a)是二次电子图像显示了纳米金属线的表面形貌。图1(b)(c)的BF-STEM/DF-STEM图像,可以清楚观察到纳米金属先端的内部构造,可以确认核,内壳层和外壳层的三层结构。 图2是化合物半导体核壳结构纳米金属线的EDX面分布。核壳层和外壳层检测到Ga和As,内壳层检测到Al和As,能够清楚地分离出三层的结构的各种成分分布。SU9000与大立体检测角的X-MaxN 100TLE相结合,可实现超高空间分辨率的EDX面分布。
实验设备
参考报价:
面议
型号:
SU9000
品牌:
日立
产地:
日本
关注度:
1170
完整度:
大小:1M
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标签: 加味三黄片
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